| 講演名 | 2008-11-17 周辺回路を含むAES-LSIへのスキャンベース攻撃(暗号処理設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) 奈良 竜太, 戸川 望, 柳澤 政生, 大附 辰夫, |
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| 抄録(和) | 暗号LSIに対するサイドチャネル攻撃の危険性が指摘されているなか,スキャンチェインを利用して秘密鍵を解読するスキャンベース攻撃が注目されている.スキャンチェインは必須のLSIテスト技術である一方,LSI内部のレジスタを直接観測できるため,暗号回路の秘密鍵解読に利用されている.従来のスキャンベース攻撃は暗号回路だけのレジスタだけで構成されたスキャンチェインにのみ有効であり,周辺回路のレジスタを考慮していない欠点があった.そこで本稿では暗号回路以外のレジスタがスキャンチェインに含まれていても秘密鍵を解読する手法を提案する.特定のレジスタに着目し,その値の変化を見ることで秘密鍵を解析する.他のレジスタに影響を受けないため,スキャンチェインの構成に依存しない.そのため,周辺回路を含んだ,より現実に近い暗号LSIに対しスキャンベース攻撃することができる. |
| 抄録(英) | The threat of side-channel attacks against the cryptography LSI is indicated. Especially, scan-based attacks, which use the scan chain, are watched. Scan chains are one of the most important testing techniques, but it is possible to use for attacks against the cryptography LSI. Conventional scan-based attacks only consider the scan chain made by registers of cryptography circuits. However, cryptography LSI usually has many IPs such as memories, micro-processors and other circuits. Because of the real scan chain consists of many kinds of registers, it is obscure whether conventional scan-based attacks can attack or cannot. In this paper, scan-based attack which enables to crack the secret key in the AES-LSI with other IPs is proposed. By focusing the bit pattern of the specific register and monitoring its change, and our method eliminates the influence of other circuit registers. Therefore, our scan-based attacks don't depend on the architecture of the scan chain, and it can crack real cryptography LSIs included with other IPs. |
| キーワード(和) | AES / サイドチャネル攻撃 / スキャンチェイン / スキャンベース攻撃 |
| キーワード(英) | Advanced Encryption Standard / AES / Side-channel attacks / Scan chain / Scan-based attack |
| 資料番号 | VLD2008-68,DC2008-36 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2008/11/10(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 周辺回路を含むAES-LSIへのスキャンベース攻撃(暗号処理設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Scan-based Attack for an AES-LSI included with other IPs |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | AES / Advanced Encryption Standard |
| キーワード(2)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / AES |
| キーワード(3)（和/英） | スキャンチェイン / Side-channel attacks |
| キーワード(4)（和/英） | スキャンベース攻撃 / Scan chain |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 奈良 竜太 / Ryuta NARA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 早稲田大学大学院基幹理工学研究科 Grad. of Fundamental Science and Engineering, Waseda University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 戸川 望 / Nozomu TOGAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 早稲田大学大学院基幹理工学研究科 Grad. of Fundamental Science and Engineering, Waseda University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 柳澤 政生 / Masao YANAGISAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 早稲田大学大学院基幹理工学研究科 Grad. of Fundamental Science and Engineering, Waseda University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 大附 辰夫 / Tatsuo OHTSUKI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 早稲田大学大学院基幹理工学研究科 Grad. of Fundamental Science and Engineering, Waseda University |
| 発表年月日 | 2008-11-17 |
| 資料番号 | VLD2008-68,DC2008-36 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 299 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |