| 講演名 | 2008-11-17 TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 半導体技術の高集積化が進みLSIの故障検出や故障診断が難しくなってきている.特に,オープン故障への対策はLSIの微細化に伴いますます重要となってきているが,オープン故障の実用的なモデル化はいまだなされていない.そこで,我々はオープン故障を組み込んだTEG(Test Element Group)チップを作製し,その測定データに基づいたオープン故障のモデル化に取り組んでいる.本研究では,TEGチップの測定データの解析を行い,実チップ中の近接する信号線がオープン故障の信号線に実際にどのような影響を及ぼしているかについて報告する. |
| 抄録(英) | The high integration of the semiconductor technology advances, and the fault detection and the failure diagnosis of LSI become difficult. Especially, a practicable modeling of an open fault has not been performed yet, though measures against the open fault become important more with advancement of LSI process technology. So, we have fabricated TEG (Test Element Group) chips into which open defects is intentionally built, and then we research on modeling the open fault based on the measurement data of the TEG chips. In this paper, the measurement data of the TEG chip is analyzed, and we report how influence a logical value of a faulty signal line with full open defect actually depend on those of the adjacent signal lines in the real chip. |
| キーワード(和) | オープン故障 / TEGチップ / 故障モデル / LSIテスト |
| キーワード(英) | open faults / TEG chip / LSI testing / fault model |
| 資料番号 | VLD2008-63,DC2008-31 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2008/11/10(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of Open Faults using TEG Chip |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | オープン故障 / open faults |
| キーワード(2)（和/英） | TEGチップ / TEG chip |
| キーワード(3)（和/英） | 故障モデル / LSI testing |
| キーワード(4)（和/英） | LSIテスト / fault model |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 堤 利幸 / Toshiyuki TSUTSUMI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 明治大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Technology, Meiji University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 刈谷 泰由紀 / Yasuyuki KARIYA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 明治大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Technology, Meiji University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山崎 浩二 / Koji YAMAZAKI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 明治大学情報コミュニケーション学部 School of Information and Communication, Meiji University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 橋爪 正樹 / Masaki HASHIZUME |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 Institute of Technology and Science, the University of Tokushima |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 四柳 浩之 / Hiroyuki YOTSUYANAGI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 Institute of Technology and Science, the University of Tokushima |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi TAKAHASHI |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu HIGAMI |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 高松 雄三 / Yuzo TAKAMATSU |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 発表年月日 | 2008-11-17 |
| 資料番号 | VLD2008-63,DC2008-31 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 299 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |