| 講演名 | 2008-11-17 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) 高嶋 敦之, 大和 勇太, 古川 寛, 宮瀬 紘平, 温 暁青, 梶原 誠司, |
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| 抄録(和) | スキャンテストのキャプチャモードにおいて,回路内部での過度のラウンチ信号変化が原因となってタイミングエラーを引き起こす可能性がある.このような誤テストを回避するためのキャプチャセーフテスト生成は,テスト歩留まり低下を避けるために重要である.しかし,従来技術では,ラウンチ信号変化をある程度削減することはできるが,完全なキャプチャセーフ性を保証することはできない.そこで本論文では,高精度のキャプチャセーフ判定性基準,及びX判定とX割当てによる効果的なキャプチャセーフテスト生成技術を提案する.更に,ベンチマーク回路を用いた実験データで提案手法の有効性を示す. |
| 抄録(英) | Capture-safety, defined as the avoidance of any timing error due to unduly high switching activity in capture mode during at-speed scan testing, is critical for avoiding test-induced yield loss. Although point techniques are available for reducing capture IR-drop, there is a lack of complete capture-safe test generation flows. The paper addresses this problem by proposing a novel and practical capture-safe test generation scheme, featuring (1) reliable capture-safety checking and (2) effective capture-safety improvement by combining X-bit identification & X-filling with low launch-switching-activity test generation. This scheme is compatible with existing ATPG flows, and achieves capture-safety with no changes to the circuit-under-test or the clocking scheme. |
| キーワード(和) | 実速度スキャンテスト / キャプチャセーフテスト / キャプチャセーフ性判定 / X判定 / X割当て |
| キーワード(英) | At-Speed Scan Test / Capture-Safety / Capture-Safety Check / X-Identification / X-Filling |
| 資料番号 | VLD2008-62,DC2008-30 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2008/11/10(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Capture-Safe Test Generation Scheme for At-Speed Scan Testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実速度スキャンテスト / At-Speed Scan Test |
| キーワード(2)（和/英） | キャプチャセーフテスト / Capture-Safety |
| キーワード(3)（和/英） | キャプチャセーフ性判定 / Capture-Safety Check |
| キーワード(4)（和/英） | X判定 / X-Identification |
| キーワード(5)（和/英） | X割当て / X-Filling |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高嶋 敦之 / Atsushi TAKASHIMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院 Dept of CSE, Kyushu Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大和 勇太 / Yuta YAMATO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院 Dept of CSE, Kyushu Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 古川 寛 / Hiroshi FURUKAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院 Dept of CSE, Kyushu Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei MIYASE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院 Dept of CSE, Kyushu Institute of Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing WEN |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院 Dept of CSE, Kyushu Institute of Technology |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji KAJIHARA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院 Dept of CSE, Kyushu Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2008-11-17 |
| 資料番号 | VLD2008-62,DC2008-30 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 299 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |