| 講演名 | 2008-11-17 An Integer Programming Formulation for Generating High Quality Transition Tests , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | This paper describes a test generation method to derive high quality transition tests for combinational circuits. It is known that, for a transition fault, two-pattern tests which propagate the errors to all the primary outputs reachable from the fault site can enhance the detectability of unmodeled defects. In this paper, to generate high quality transition tests, the test generation problem is formulated as a problem of integer linear programming, where a metric expressing the above fact is optimized. The proposed formulation guarantees that minimum two-pattern tests for a transition fault are generated such that the errors are observed at all the primary outputs reachable from the fault site. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | combinational circuit / test generation / high quality transition test / integer linear programming / minimum test set |
| 資料番号 | VLD2008-61,DC2008-29 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2008/11/10(から1日開催) |
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| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Integer Programming Formulation for Generating High Quality Transition Tests |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / combinational circuit |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Tsuyoshi IWAGAKI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | School of Information Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST) |
| 発表年月日 | 2008-11-17 |
| 資料番号 | VLD2008-61,DC2008-29 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 299 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |