| 講演名 | 2008-11-17 ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) 濱崎 和光, 細川 利典, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 近年VLSIの大規模化,複雑化に伴い,縮退故障テスト以外に遷移故障やブリッジ故障に対するテストの要求が高まってきている.しかしながら,縮退故障以外の故障モデルを検出するために新たにテストパターンを追加すると,テストパターン数に比例してテストコストが増大する.本論文では,ドントケア抽出技術を用いて与えられた縮退故障テストパターンに対して,ドントケアを抽出し,できるだけ多数の遷移故障を検出するようにドントケアに対する値の再割り当て方法を提案する.ITC'99ベンチマーク回路に対して本提案手法を適用した結果,テストパターン数を増加させることなく,遷移故障検出率を最大27%向上させることができた. |
| 抄録(英) | In recent year, transition fault testing and/or bridging fault testing for VLSIs are increasingly required in addition to stuck-at fault testing because the number of gates on VLSIs is rapidly increasing and their complexity is growing with advances in semiconductor technology. However, additional test patterns to detect fault models other than stuck-at fault cause the increase of testing cost. In this paper, we propose a method to generate a modified test set that not only guarantees to detect stuck-at faults but also detects as many as possible transition faults by applying don't care identification techniques to a given stuck-at test set. Therefore, there are no negative impacts on testing cost. Experimental results for ITC'99 benchmark circuits show that the modified test sets obtained by the proposed method detect more transition faults from 27% than the test sets initially generated for stuck-at faults. |
| キーワード(和) | ドントケア抽出 / スキュードロード / 遷移故障 / 逆シフト |
| キーワード(英) | don't care / skewed load / transition fault / reverse shifting |
| 資料番号 | VLD2008-60,DC2008-28 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2008/11/10(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Improving Transition Fault Coverage of Stuck-at Fault Tests Using Don't Care Identification Technique |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ドントケア抽出 / don't care |
| キーワード(2)（和/英） | スキュードロード / skewed load |
| キーワード(3)（和/英） | 遷移故障 / transition fault |
| キーワード(4)（和/英） | 逆シフト / reverse shifting |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 濱崎 和光 / Kazumitsu HAMASAKI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学大学院生産工学研究科 Graduate School of Industrial Technology, Nihon University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori HOSOKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学生産工学部 College of Industrial Technology, Nihon University |
| 発表年月日 | 2008-11-17 |
| 資料番号 | VLD2008-60,DC2008-28 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 299 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |