講演名 2008-11-18
スーパーコンピュータSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測(高性能プロセッサ・システムLSIの実装設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
梶田 幹浩, 實吉 永典, 野瀬 浩一, 水野 正之,
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抄録(和) NECでは、最先端のプロセステクノロジを用いたスーパーコンピュータの開発を行っている。最新のプロセッサでは、集積密度が著しく上がった結果、電力密度も大幅に増加し、LSI温度上昇が危機的な状況にある。このため、近年のプロセッサでは、温度をモニタしながら動作制御を行うことが要求されており、NECのスーパーコンピュータSX-9でも、新規開発したオンチップ温度センサを用いて動作制御を行っている。今回は、この温度センサおよび、センサを用いた熱設計について紹介する。
抄録(英) NEC has developed supercomputers "SX" using the leading-edge LSI technologies. In the latest microprocessors, CMOS transistors are integrated over die with high density, which may result in an enormous increase in power density. To prevent this critical increase in power consumption, we have proposed a thermal sensor based on transistor off-leakage current, that allows measurement error of less than 3.1℃ even at high temperature. In this paper, we present our thermal sensor and our thermal design using this sensor.
キーワード(和) スーパーコンピュータ / 熱設計 / オンチップ温度観測 / オフ電流
キーワード(英) supercompurter / thermal design / on-die thermal sensing / off leakage current
資料番号 CPM2008-91,ICD2008-90
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2008/11/11(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) スーパーコンピュータSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測(高性能プロセッサ・システムLSIの実装設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Thermal design and on-die thermal sensing in the SX supercomputers
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) スーパーコンピュータ / supercompurter
キーワード(2)(和/英) 熱設計 / thermal design
キーワード(3)(和/英) オンチップ温度観測 / on-die thermal sensing
キーワード(4)(和/英) オフ電流 / off leakage current
第 1 著者 氏名(和/英) 梶田 幹浩 / Mikihiro KAJITA
第 1 著者 所属(和/英) 日本電気株式会社
NEC Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 實吉 永典 / Eisuke SANEYOSHI
第 2 著者 所属(和/英) 日本電気株式会社
NEC Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 野瀬 浩一 / Koichi NOSE
第 3 著者 所属(和/英) 日本電気株式会社
NEC Corporation
第 4 著者 氏名(和/英) 水野 正之 / Masayuki MIZUNO
第 4 著者 所属(和/英) 日本電気株式会社
NEC Corporation
発表年月日 2008-11-18
資料番号 CPM2008-91,ICD2008-90
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 302
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日