講演名 2008-11-27
AlGaNのMOVPE成長における基板の反り制御(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
小川原 悠哉, 生川 満久, 三宅 秀人, 平松 和政,
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抄録(和) 面内均一性に優れたデバイスを作製するためには,成長時における基板の反りの低減が必要である。本研究では,MOVPE法により異なる基板上にAlGaN成長を行い,成長時における基板の反りのその場観察を行った。AlGaN成長中の基板の曲率は,GaNテンプレート基板とサファイア基板では増加し,基板の反りが大きくなったのに対して、AlNテンプレート基板では曲率が減少し,基板の反りが小さくなった。AlGaNよりも格子定数が大きいAlNテンプレート基板を用いることで、発光層の成長時に基板の反りがないデバイス形成が実現できる可能性がある。
抄録(英) To achieve a devise superior in uniformity in plane, reduction technique of wafer bowing during growth is necessary. In this work, AlGaN was grown by MOVPE on different substrate, and in situ measurement of substrate curvature during growth. During AlGaN growth on GaN template and sapphire the substrate curvature increased, as a result wafer curve was large. While during growth on AlN template curvature decreased, and wafer curve was small. From this result, there is a possibility to be able to devices that is no wafer curve during growth of active layer by using AlN template which is larger lattice constant than AlGaN
キーワード(和) 反り / その場観察 / AlGaN / AlN / MOVPE
キーワード(英) curve / in situ / AlGaN / AlN / MOVPE
資料番号 ED2008-165,CPM2008-114,LQE2008-109
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2008/11/20(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) AlGaNのMOVPE成長における基板の反り制御(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Control of substrate curvature during MOVOE growth of AlGaN
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 反り / curve
キーワード(2)(和/英) その場観察 / in situ
キーワード(3)(和/英) AlGaN / AlGaN
キーワード(4)(和/英) AlN / AlN
キーワード(5)(和/英) MOVPE / MOVPE
第 1 著者 氏名(和/英) 小川原 悠哉 / Yuya Ogawahara
第 1 著者 所属(和/英) 三重大学工学部電気電子工学科
Faculty of Eng., Mie University
第 2 著者 氏名(和/英) 生川 満久 / Mitsuhisa Narukawa
第 2 著者 所属(和/英) 三重大学工学部電気電子工学科
Faculty of Eng., Mie University
第 3 著者 氏名(和/英) 三宅 秀人 / Hideto Miyake
第 3 著者 所属(和/英) 三重大学工学部電気電子工学科
Faculty of Eng., Mie University
第 4 著者 氏名(和/英) 平松 和政 / Kazumasa Hiramatsu
第 4 著者 所属(和/英) 三重大学工学部電気電子工学科
Faculty of Eng., Mie University
発表年月日 2008-11-27
資料番号 ED2008-165,CPM2008-114,LQE2008-109
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 321
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日