| 講演名 | 2008-10-17 Sn,Al,In等の軟質金属接触部の接触抵抗特性(トライボロジ・一般) 玉井 輝雄, 澤田 滋, 服部 康弘, |
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| 抄録(和) | Sn、Al、In等の軟質金属は硬さが低いなどの特有の特性からコネクタを初めとして種々の接触部、接続部、接合部に用いられている。これらの金属は酸化皮膜で覆われているため耐食性があるが、その皮膜を破って下地の金属との接触が生じないと低接触抵抗は得られず、詳細な接触のメカニズムは明らかになっていない。ここでは、Au接触部と対比しながらこれらの金属の接触荷重の変化に対する接触抵抗特性を調べ、接触痕跡のSEM等による観察とともに接触のメカニズムを検討した。その結果、従来の変形理論では説明できない、軟質金属特有の周辺部における変形や凝着の発生が接触抵抗の低下に大きく寄与していることを明らかにした。 |
| 抄録(英) | Soft metal group such as Sn, Al and In is widely applied to connections, junctions and contacts. Since surfaces of the metals are usually covered with its oxide films, corrosion resistance property appears. It is difficult to obtain low contact resistance without mechanical break-down of the oxide film. Therefore, contact mechanisms are complex and are not clarified. In the present study, to clarify the contact mechanism of the soft metal group contacts more in detail, the contact resistance characteristics for changes of contact load were measured under lower contact load region. Obtained contact traces in these examinations were observed by optically and SEM. As results, it was found that decrease in the contact resistance strongly depended on a deformation of piling up of a periphery of the contact trace and occurrence of adhesions which can not be explained by the deformation theory widely accepted. |
| キーワード(和) | Sn、Al、In系軟質接触部 / 接触抵抗 / 接触荷重 / 接触痕跡 / コネクタ |
| キーワード(英) | Sn, Al and In soft group contacts / contact resistance / contact load / contact trace / connector |
| 資料番号 | EMD2008-62 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2008/10/10(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Sn,Al,In等の軟質金属接触部の接触抵抗特性(トライボロジ・一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Contact Resistance Characteristics of Soft Metal Contacts such as Sn, Al, Sn |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Sn、Al、In系軟質接触部 / Sn, Al and In soft group contacts |
| キーワード(2)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(3)（和/英） | 接触荷重 / contact load |
| キーワード(4)（和/英） | 接触痕跡 / contact trace |
| キーワード(5)（和/英） | コネクタ / connector |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三重大学大学院工学研究科社会連携講座 Mie University, Graduate School of Engineering, Laboratory of Vehicle Network Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 澤田 滋 / Sigeru Sawada |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 三重大学大学院工学研究科社会連携講座 Mie University, Graduate School of Engineering, Laboratory of Vehicle Network Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori |
| 第 3 著者 所属（和/英） | (株)オートネットワーク技術研究所 AutoNetworks, Ltd. |
| 発表年月日 | 2008-10-17 |
| 資料番号 | EMD2008-62 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 246 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |