講演名 | 2008-10-10 Hf混晶化PtSiの仕事関数変調機構の検討(プロセス科学と新プロセス技術) 高 峻, 石川 純平, 大見 俊一郎, |
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抄録(和) | PtSiのn-Siに対する障壁高さを低減することを目的として、Hfとの混晶化によるPtSiの仕事関数変調に関する検討を行った。Pt/Hf/n-Si(100)積層構造を形成後、窒素中400-750℃のアニールを行いPt_xHf_<1-x>Siを形成した。Pt(15nm)/Hf(8nm)/n-Si(100)構造に対して、750℃/5minでシリサイド化した場合、障壁高さが0.1eV低減されたことに対し、400℃/60minでシリサイド化した場合、障壁高さを0.3eV低減可能であることが分かった。これは、400℃でシリサイド化した場合、平坦性が改善し、界面特性が向上したためと考えられる。 |
抄録(英) | Mechanisms of work function modulation in PtSi alloying with Hf was investigated. When a silicidation of Pt(15nm)/Hf(8nm)/n-Si(100) was carried out at 750℃/5min in N_2 ambient, 0.1eV reduction of barrier height for electron was observed, while 0.3eV reduction was observed in case of 400℃/60min silicidation. This is attributed to that the uniformity of the silicide thin film was improved in case of 400℃/60 min silicidation. |
キーワード(和) | PtSi / モノシリサイド / 混晶 / 障壁高さ / 仕事関数 / シート抵抗 |
キーワード(英) | PtSi / mono-silicide / alloy / barrier height / work function / sheet resistance |
資料番号 | SDM2008-162 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | SDM |
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開催期間 | 2008/10/2(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Silicon Device and Materials (SDM) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | Hf混晶化PtSiの仕事関数変調機構の検討(プロセス科学と新プロセス技術) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | A study on work function modulation in PtSi alloying with Hf |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | PtSi / PtSi |
キーワード(2)(和/英) | モノシリサイド / mono-silicide |
キーワード(3)(和/英) | 混晶 / alloy |
キーワード(4)(和/英) | 障壁高さ / barrier height |
キーワード(5)(和/英) | 仕事関数 / work function |
キーワード(6)(和/英) | シート抵抗 / sheet resistance |
第 1 著者 氏名(和/英) | 高 峻 / Jun GAO |
第 1 著者 所属(和/英) | 東京工業大学大学院総合理工研究科物理電子システム創造専攻 Dept. of Electronics and Applied Physics, Interdisciplinary Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology |
第 2 著者 氏名(和/英) | 石川 純平 / Junpei ISHIKAWA |
第 2 著者 所属(和/英) | 東工大 / |
第 3 著者 氏名(和/英) | 大見 俊一郎 / Shun-ichiro OHMI |
第 3 著者 所属(和/英) | 東工大 |
発表年月日 | 2008-10-10 |
資料番号 | SDM2008-162 |
巻番号(vol) | vol.108 |
号番号(no) | 236 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |