講演名 2008-10-10
Hf混晶化PtSiの仕事関数変調機構の検討(プロセス科学と新プロセス技術)
高 峻, 石川 純平, 大見 俊一郎,
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抄録(和) PtSiのn-Siに対する障壁高さを低減することを目的として、Hfとの混晶化によるPtSiの仕事関数変調に関する検討を行った。Pt/Hf/n-Si(100)積層構造を形成後、窒素中400-750℃のアニールを行いPt_xHf_<1-x>Siを形成した。Pt(15nm)/Hf(8nm)/n-Si(100)構造に対して、750℃/5minでシリサイド化した場合、障壁高さが0.1eV低減されたことに対し、400℃/60minでシリサイド化した場合、障壁高さを0.3eV低減可能であることが分かった。これは、400℃でシリサイド化した場合、平坦性が改善し、界面特性が向上したためと考えられる。
抄録(英) Mechanisms of work function modulation in PtSi alloying with Hf was investigated. When a silicidation of Pt(15nm)/Hf(8nm)/n-Si(100) was carried out at 750℃/5min in N_2 ambient, 0.1eV reduction of barrier height for electron was observed, while 0.3eV reduction was observed in case of 400℃/60min silicidation. This is attributed to that the uniformity of the silicide thin film was improved in case of 400℃/60 min silicidation.
キーワード(和) PtSi / モノシリサイド / 混晶 / 障壁高さ / 仕事関数 / シート抵抗
キーワード(英) PtSi / mono-silicide / alloy / barrier height / work function / sheet resistance
資料番号 SDM2008-162
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2008/10/2(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) Hf混晶化PtSiの仕事関数変調機構の検討(プロセス科学と新プロセス技術)
サブタイトル(和)
タイトル(英) A study on work function modulation in PtSi alloying with Hf
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) PtSi / PtSi
キーワード(2)(和/英) モノシリサイド / mono-silicide
キーワード(3)(和/英) 混晶 / alloy
キーワード(4)(和/英) 障壁高さ / barrier height
キーワード(5)(和/英) 仕事関数 / work function
キーワード(6)(和/英) シート抵抗 / sheet resistance
第 1 著者 氏名(和/英) 高 峻 / Jun GAO
第 1 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院総合理工研究科物理電子システム創造専攻
Dept. of Electronics and Applied Physics, Interdisciplinary Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 石川 純平 / Junpei ISHIKAWA
第 2 著者 所属(和/英) 東工大
/
第 3 著者 氏名(和/英) 大見 俊一郎 / Shun-ichiro OHMI
第 3 著者 所属(和/英) 東工大
発表年月日 2008-10-10
資料番号 SDM2008-162
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 236
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日