講演名 2008-10-09
エタノール添加スラリーを用いたCMPによるCWレーザ結晶化Si薄膜の平坦化(プロセス科学と新プロセス技術)
沼田 雅之, 黒木 伸一郎, 藤井 俊太朗, 小谷 光司, 伊藤 隆司,
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抄録(和) CWレーザアニールはガラス基板上でグレインサイズ20×2μm^2の大粒径poly-Si薄膜を得ることができ、TFTの高性能化に有効である。しかし、この結晶化によりSi薄膜表面に数十nmの凹凸が形成される。これを平坦化するために、化学的機械的平坦化を検討したので報告する。
抄録(英) CW laser crystallization of amorphous silicon films is a promising method to realize thin film transistor with high performance. However, the laser crystallized silicon films have large surface roughness. In this paper, a chemical mechanical polishing of laser crystallized Si films was reported.
キーワード(和) CMP / レーザ結晶化 / TFT
キーワード(英) CMP / laser crystallization / TFT
資料番号 SDM2008-151
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2008/10/2(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) エタノール添加スラリーを用いたCMPによるCWレーザ結晶化Si薄膜の平坦化(プロセス科学と新プロセス技術)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Planarization of CW laser crystallized Si thin films by chemical mechanical polishing using slurry with ethyl alcohol
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) CMP / CMP
キーワード(2)(和/英) レーザ結晶化 / laser crystallization
キーワード(3)(和/英) TFT / TFT
第 1 著者 氏名(和/英) 沼田 雅之 / Masayuki Numata
第 1 著者 所属(和/英) 東北大学大学院工学研究科
Graduate School of Engineering, Tohoku University
第 2 著者 氏名(和/英) 黒木 伸一郎 / Shin-Ichiro Kuroki
第 2 著者 所属(和/英) 東北大学大学院工学研究科
Graduate School of Engineering, Tohoku University
第 3 著者 氏名(和/英) 藤井 俊太朗 / Shuntaro Fujii
第 3 著者 所属(和/英) 東北大学大学院工学研究科
Graduate School of Engineering, Tohoku University
第 4 著者 氏名(和/英) 小谷 光司 / Koji Kotani
第 4 著者 所属(和/英) 東北大学大学院工学研究科
Graduate School of Engineering, Tohoku University
第 5 著者 氏名(和/英) 伊藤 隆司 / Takashi Ito
第 5 著者 所属(和/英) 東北大学大学院工学研究科
Graduate School of Engineering, Tohoku University
発表年月日 2008-10-09
資料番号 SDM2008-151
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 236
ページ範囲 pp.-
ページ数 3
発行日