| 講演名 | 2008-10-07 組み合わせ論理回路におけるソフトエラーの論理マスク効果の正確な見積り手法について(プロセッサ,システムLSIの応用と要素技術,プロセッサ,DSP,画像処理技術及び一般) 松永 裕介, |
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| 抄録(和) | 中性子線などの影響で組み合わせ回路中の論理値に一時的な誤りが発生することをソフトエラーと呼ぶ,組み合わせ回路内部のソフトエラーはそのすべてが外部出力まで到達するわけではなく,いくつかの要因でマスクされ回路の動作に影響を与えない場合もある.本稿ではそのようなマスク要因の一つである論理マスクの影響を正確に見積もる手法について述べる.このアルゴリズムは他の故障に関する計算結果を再利用することで処理の高速化を図っている. |
| 抄録(英) | Soft-error is a phenomena that the output value of a logic gate flips transiently because of neutron particle strike, etc. In combinational circuit, not every soft error affects the behavior of the external outputs because of some masking effects. This paper proposes an efficient algorithm which exactly estimates the logic masking effect. This algorithm utilizes the previously computed results effectively to accelerate the entire computation. |
| キーワード(和) | ソフトエラー / 組み合わせ論理回路 / 論理マスク / 故障シミュレーション |
| キーワード(英) | soft error / combinational circuit / logic masking / fault simulation |
| 資料番号 | SIP2008-116,IE2008-80 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | IE |
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| 開催期間 | 2008/9/29(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Image Engineering (IE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 組み合わせ論理回路におけるソフトエラーの論理マスク効果の正確な見積り手法について(プロセッサ,システムLSIの応用と要素技術,プロセッサ,DSP,画像処理技術及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On exact estimation of logic masking effect for soft erros on combinational circuits |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / soft error |
| キーワード(2)（和/英） | 組み合わせ論理回路 / combinational circuit |
| キーワード(3)（和/英） | 論理マスク / logic masking |
| キーワード(4)（和/英） | 故障シミュレーション / fault simulation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 松永 裕介 / Yusuke MATSUNAGA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州大学大学院システム情報科学研究院 Faculty of Information Science and Electorical Engineering, Graduate School of Kyushu University |
| 発表年月日 | 2008-10-07 |
| 資料番号 | SIP2008-116,IE2008-80 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 229 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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