| 講演名 | 2008-08-28 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その2)(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般) 和田 真一, 園田 健人, 越田 圭治, 菊地 光男, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構を用いて,総加振回数が3000万回から4000万回の加振実験を行った.加振開始後,一定の期間を経ると,接触抵抗値が上昇し約200Ωとなった.この傾向は実験終了まで持続した.比較として,電気接点に微小摺動を与える摺動機構による,総摺動回数が約1400万回の摺動実験を行った.摺動後20万回後に接触抵抗が上昇しその後,約200Ωとなった.2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた.これらの接触抵抗の変動に対してfretting Corrosionモデルを適用し検討することで,本加振機構及び摺動の微小振動が接触抵抗に与える影響についてより現実的に考察できる可能性が示唆された. |
| 抄録(英) | The authors have developed the hammering oscillating mechanism which could give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on contact resistance. By the mechanism the authors made experiments with total operation's number, 30 or 40 millions. After the term was passed, the contact resistance increased in number to about 200Ω. The tendency continued till the end. On the contrary, by the sliding contact mechanism the authors made experiments with total operation's number of 14 millions. After starting, the contact resistance increased in number to about 200Ω. Although the two mechanisms are completely different (in methods, numbers, etc ), the results of two measurements were almost similar on the oscillating phenomenon. It was suggested that the mechanism could detect the more real degradation phenomenon on contacts with the influences of micro-vibration by applying the model of fretting corrosion to the fluctuation of contact resistance. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 加振機構 / 微小振動 / 接触抵抗 / 摺動接触 / 摺動機構 / ハンマリング加振機構 |
| キーワード(英) | electrical contact / oscillating mechanism / micro-vibration / contact resistance / sliding contact / sliding mechanism / hammering oscillation mechanism |
| 資料番号 | EMD2008-41,CPM2008-56,OPE2008-71,LQE2008-40 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | LQE |
|---|---|
| 開催期間 | 2008/8/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Lasers and Quantum Electronics (LQE) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その2)(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism : for Contact Resistance (II) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 加振機構 / oscillating mechanism |
| キーワード(3)（和/英） | 微小振動 / micro-vibration |
| キーワード(4)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(5)（和/英） | 摺動接触 / sliding contact |
| キーワード(6)（和/英） | 摺動機構 / sliding mechanism |
| キーワード(7)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillation mechanism |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 園田 健人 / Taketo SONODA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 菊地 光男 / Mitsuo KIKUCHI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学新川崎タウンキャンパス Keio University Shin-Kawasaki Town Campus |
| 発表年月日 | 2008-08-28 |
| 資料番号 | EMD2008-41,CPM2008-56,OPE2008-71,LQE2008-40 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 194 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |