| 講演名 | 2008-07-09 A Ta_2O_5 Solid-electrolyte Switch with Improved Reliability(Session3: Emerging Devices I) , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | We present a novel solid-electrolyte switch ("NanoBridge") promising for application to field programmable gate array (FPGA). We replaced a previous solid electrolyte of Cu_2S with Ta_2O_5, which is compatible with a Si process. By using Ta_2O_5, we successfully controlled the turn-on voltage to adapt to CMOS operation. Furthermore, we examined the ON-state reliability of the Ta_2O_5-NanoBridge and found a trade-off between turn-off current and ON-state reliability, both of which depended on the ON conductance. By optimizing the ON conductance, NanoBridge using Ta_2O_5 achieved high durability against current (0.2mA, 105℃, 10 years) and fair turn-off current (5mA). NanoBridge can thus meet the requirements for FPGA applications. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Solid-electrolyte / Electrochemical reaction / Ion diffusion |
| 資料番号 | ED2008-52,SDM2008-71 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED |
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| 開催期間 | 2008/7/2(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Ta_2O_5 Solid-electrolyte Switch with Improved Reliability(Session3: Emerging Devices I) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Solid-electrolyte |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Naoki BANNO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Device Platforms Research Laboratories, NEC Corporation:Japan Science and Technology Agency |
| 発表年月日 | 2008-07-09 |
| 資料番号 | ED2008-52,SDM2008-71 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 121 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |