| 講演名 | 2008-07-17 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用) 野口 宏一朗, 野瀬 浩一, 尾野 年信, 水野 正之, |
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| 抄録(和) | プロセスの微細化によるチップの高集積化に伴い、微小遅延故障がチップの信頼性を下げる大きな要因の一つになっている。我々はLSIのスクリーニング技術として、これらの微小遅延故障を検出する技術を開発した。開発した検出技術は従来手法よりも短いテスト時間で、遅延統計上で分布はずれとして現れる微小遅延故障の検出を実現する。90nmCMOSテストチップ用い評価を行った結果、100MHz設計の回路において、微小遅延故障によって引き起こされた約1nsの遅延変化の検出を実現した。このとき、テスト時間を従来手法の1/25まで削減した。 |
| 抄録(英) | As continuous process scaling produces large-scale chips, small-delay defects become one of the major chip-reliability limiters. Small-delay defect detection techniques for LSI screening have been developed, which can successfully detect outlier chips among normally-distributed chips in a short testing time. In our experiments with 90nm CMOS 100MHz test chips, we have successfully detected around 1-ns path-delay shift caused by small-delay defects in only 1/25 of testing time. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Delay defbct / Test / Screening / Scan-FF |
| 資料番号 | SDM2008-132,ICD2008-42 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2008/7/10(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A small-delay defect detection technique for dependable LSIs |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Delay defbct |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 野口 宏一朗 / Koichiro NOGUCHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NECデバイスプラットフォーム研究所 Device Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 野瀬 浩一 / Koichi NOSE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NECデバイスプラットフォーム研究所 Device Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 尾野 年信 / Toshinobu ONO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス設計技術開発部 Design Engineering Development Division, NEC Electronics Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 水野 正之 / Masayuki MIZUNO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | NECデバイスプラットフォーム研究所 Device Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 発表年月日 | 2008-07-17 |
| 資料番号 | SDM2008-132,ICD2008-42 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 140 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |