| 講演名 | 2008-06-26 宇宙用論理LSIで発生する放射線誘起スパイクノイズの研究(宇宙応用シンポジウム-観測・通信衛星の軌道上評価と将来衛星搭載機器開発-) 牧野 高紘, 柳川 善光, 小林 大輔, 福田 盛介, 廣瀬 和之, 池田 博一, 齋藤 宏文, 小野田 忍, 平尾 敏雄, 大島 武, 高橋 大輔, 石井 茂, 草野 将樹, 池淵 博, 黒田 能克, |
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| 抄録(和) | 放射線によって論理LSI内に誘起されるスパイクノイズがソフトエラー源として顕在化してきている.論理LSIはチップ内部に多数のフリップフロップ(FF)やラッチ回路を保持しており,その記憶データが反転するとソフトエラーが起きる.論理LSIでは,放射線がFFやラッチ回路に当たってソフトエラーが起きるだけでなく,組み合わせ論理回路に当たって発生するスパイクノイズによってもソフトエラーが起きる.発生するスパイクノイズの長さが長くなるとソフトエラーの発生率が増加してしまう.そのため,スパイクノイズの放射線入射空LET依存性を測定した.また,放射線がFFやラッチ回路に当たって発生するソフトエラーだけでなく,組み合わせ論理回路に当たって発生するソフトエラー両方の影響をそれぞれ評価する必要がある.さらに各FFでどれだけデータが反転,すなわちソフトエラーが起きたか知る必要がある.これらの要求を満たす新しいLSIテスト技術を開発し,その妥当性を実証した. |
| 抄録(英) | SET pulse-widths were measured as a function of LET by using pulse capture circuits. In addition, a scan flip-flop (FF) is designed to observe both single event transient (SET) and single event upset (SEU) soft errors in logic VLSI system. |
| キーワード(和) | ソフトエラー / 論理LSI / LSIテスト技術 / スパイクノイズ |
| キーワード(英) | Soft error / logic VLSI / single event transient |
| 資料番号 | SANE2008-25 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SANE |
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| 開催期間 | 2008/6/19(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Space, Aeronautical and Navigational Electronics (SANE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 宇宙用論理LSIで発生する放射線誘起スパイクノイズの研究(宇宙応用シンポジウム-観測・通信衛星の軌道上評価と将来衛星搭載機器開発-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Radiation-Induced Transient-Pulses in Logic LSIs for Use in Space Applications |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / Soft error |
| キーワード(2)（和/英） | 論理LSI / logic VLSI |
| キーワード(3)（和/英） | LSIテスト技術 / single event transient |
| キーワード(4)（和/英） | スパイクノイズ |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 牧野 高紘 / Takahiro MAKINO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 総合研究大学院大学 The Graduate University for Advanced Studies |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 柳川 善光 / Yoshimitsu YANAGAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学大学院 The University of Tokyo |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 小林 大輔 / Daisuke KOBAYASHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 総合研究大学院大学:宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 The Graduate University for Advanced Studies:Japan Aerospace Exploration Agency |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 福田 盛介 / Seisuke FUKUDA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 Japan Aerospace Exploration Agency |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 廣瀬 和之 / Kazuyuki HIROSE |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 総合研究大学院大学:宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 The Graduate University for Advanced Studies:Japan Aerospace Exploration Agency |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 池田 博一 / Hirokazu IKEDA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 総合研究大学院大学:宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 The Graduate University for Advanced Studies:Japan Aerospace Exploration Agency |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 齋藤 宏文 / Hirobumi SAITO |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 東京大学大学院:宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 The University of Tokyo:Japan Aerospace Exploration Agency |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 小野田 忍 / Shinobu ONODA |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 日本原子力研究開発機構 Japan Atomic Energy Agency |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | 平尾 敏雄 / Toshio HIRAO |
| 第 9 著者 所属（和/英） | 日本原子力研究開発機構 Japan Atomic Energy Agency |
| 第 10 著者 氏名（和/英） | 大島 武 / Takeshi OHSHIMA |
| 第 10 著者 所属（和/英） | 日本原子力研究開発機構 Japan Atomic Energy Agency |
| 第 11 著者 氏名（和/英） | 高橋 大輔 / Daisuke TAKAHASHI |
| 第 11 著者 所属（和/英） | 三菱重工業株式会社 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 第 12 著者 氏名（和/英） | 石井 茂 / Shigeru ISHII |
| 第 12 著者 所属（和/英） | 三菱重工業株式会社 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 第 13 著者 氏名（和/英） | 草野 将樹 / Masaki KUSANO |
| 第 13 著者 所属（和/英） | 三菱重工業株式会社 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 第 14 著者 氏名（和/英） | 池淵 博 / Hiroshi IKEBUCHI |
| 第 14 著者 所属（和/英） | 三菱重工業株式会社 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 第 15 著者 氏名（和/英） | 黒田 能克 / Yoshikatsu KURODA |
| 第 15 著者 所属（和/英） | 三菱重工業株式会社 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. |
| 発表年月日 | 2008-06-26 |
| 資料番号 | SANE2008-25 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 100 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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