| 講演名 | 2008-06-20 オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証) 山崎 浩二, 堤 利幸, 高橋 寛, 樋上 喜信, 相京 隆, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 高松 雄三, |
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| 抄録(和) | 回路の微細化や銅配線の導入により,配線やビアの断線の発生頻度が高まっている.そのため,オープン故障診断法の開発の重要性が増してきている.本稿では,断線した信号線の論理値が隣接信号線の論理値のしきい値関数として表されるオープン故障の診断法を提案する.本手法では,このしきい値関数を利用して,故障信号線を絞り込み,さらに,故障信号線上の断線位置の推定を行う.計算機実験の結果は,多くの場合,高速に被疑故障を1箇所に特定できること,および故障信号線上の断線位置を故障信号線の長さの25%程度まで絞り込むことができることを示している. |
| 抄録(英) | With the shrinking process technologies and the use of copper process, open defects on interconnect wires, contacts and vias often cause failure. Development of an efficient fault diagnosis method for open faults is desired. In this paper, we propose a method to dianose open faults in which the logical value of the line with open defect is represented as a threshold function of its adjacent lines. By using the threshold function, we can deduce not only a faulty line but also an open defect site at the fault line. Experimental results show that the proposed method can identify an exact faulty line in most cases with a very small computation cost. The proposed method can also identify the open defect site within 25%-length of the faulty line. |
| キーワード(和) | 故障診断 / オープン故障 / 隣接信号線 / しきい値関数 / pass/fail情報 |
| キーワード(英) | fault diagnosis / open faults / adjacent lines / threshold function / pass/fail information |
| 資料番号 | DC2008-16 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2008/6/13(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improving the Diagnostic Quality of Open Faults |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | オープン故障 / open faults |
| キーワード(3)（和/英） | 隣接信号線 / adjacent lines |
| キーワード(4)（和/英） | しきい値関数 / threshold function |
| キーワード(5)（和/英） | pass/fail情報 / pass/fail information |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山崎 浩二 / Koji YAMAZAKI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 明治大学情報コミュニケーション学部 School of Information and Communication, Meiji University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 堤 利幸 / Toshiyuki TSUTSUMI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 明治大学理工学部 School of Science and Technology, Meiji University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi TAKAHASHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu HIGAMI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 相京 隆 / Takashi AIKYO |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 四柳 浩之 / Hiroyuki YOTSUYANAGI |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 徳島大学大学院先端技術科学教育部 Graduate School of Advanced Technology and Science, the University of Tokushima |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 橋爪 正樹 / Masaki HASHIZUME |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 徳島大学大学院先端技術科学教育部 Graduate School of Advanced Technology and Science, the University of Tokushima |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 高松 雄三 / Yuzo TAKAMATSU |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 発表年月日 | 2008-06-20 |
| 資料番号 | DC2008-16 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 99 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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