講演名 2008-02-15
全反射終端を用いた2波長プッシュプル反射計測方式(DWPR)の高精度化(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
小松 康俊, 井上 恵一, 斧田 誠一, 塚本 信夫,
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抄録(和) 光ファイバ端面に、2つの波長に対する反射率が被測定物理量によってプッシュプルに変化する反射センサを設けるDWPR方式では、測定に用いる光のレベル変動が誤差要因となる。そこで、センサネットワーク内で全反射終端器を参照に用いて測定光のレベル変動を校正する方式を検討した。その結果、比較的長周期の変動は効果的に低減できることがわかったので、解析および実験結果をあわせて報告する。
抄録(英) DWPR method uses an optical reflective sensor attached at the end of an optical fiber. The reflectance of the sensor varies in a complementary push-pull manner for two different wavelengths depending on the physical quantity to be measured. The fluctuation of the optical output level causes a measurement error in DWPR. We investigated a method to eliminate this error and found the error caused by long-period variation could be effectively reduced using a total reflector. Analytical and experimental results are presented here.
キーワード(和) DWPR / 2波長反射率比 / 全反射終端 / 出力光レベル変動
キーワード(英) DWPR / Reflectance Ratio / Total Reflector / Optical Level Fluctuation
資料番号 R2007-65,EMD2007-120
発行日

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 2008/2/8(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromechanical Devices (EMD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 全反射終端を用いた2波長プッシュプル反射計測方式(DWPR)の高精度化(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Accuracy Improvement of Dual Wavelength Push-pull Reflectometry (DWPR) Using a Total Reflector
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) DWPR / DWPR
キーワード(2)(和/英) 2波長反射率比 / Reflectance Ratio
キーワード(3)(和/英) 全反射終端 / Total Reflector
キーワード(4)(和/英) 出力光レベル変動 / Optical Level Fluctuation
第 1 著者 氏名(和/英) 小松 康俊 / Yasutoshi KOMATSU
第 1 著者 所属(和/英) (株)渡辺製作所
Watanabe, Inc.
第 2 著者 氏名(和/英) 井上 恵一 / Keiichi INOUEO
第 2 著者 所属(和/英) (有)ディーエスピー技研
DSP Technology Associates, Inc.
第 3 著者 氏名(和/英) 斧田 誠一 / Seiichi ONODA
第 3 著者 所属(和/英) (有)ディーエスピー技研
DSP Technology Associates, Inc.
第 4 著者 氏名(和/英) 塚本 信夫 / Nobuo TSUKAMOTO
第 4 著者 所属(和/英) (有)ディーエスピー技研
DSP Technology Associates, Inc.
発表年月日 2008-02-15
資料番号 R2007-65,EMD2007-120
巻番号(vol) vol.107
号番号(no) 485
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日