| 講演名 | 2008-02-15 接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 : 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般) 玉井 輝雄, 服部 康弘, 池田 博榮, |
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| 抄録(和) | シリコーン蒸気が接触面に吸着し、放電やジュール熱等の高温度に曝されると、それが分解してSiO_2を生じて接触不良となるといわれている。しかし、実際の接触部では非常に複雑な様相を呈する。これらの熱源は放電等で、局部的に非常に短い時間での加熱である。このため、吸着シリコーンは不完全な分解となり、開環重合で液体状のシリコーンや重合化シリコーンが生じ、接触不良へ至ることをここで示した。エネルギーの大きい放電ではSiO_2+Cを生じて接触不良を生ずる。さらにこのCの発生メカニズムも検討した。 |
| 抄録(英) | When adsorbed silicone vapor on contact surfaces is heated by discharge or Joule heat, the vapor decomposes to SiO_2, contact failure may be occurred by SiO_2. However, complex phenomena occurred on the actual contact surface. As these heat sources are limited at very small spots, and heated period is very short, decomposition of the adsorbed silicone is incomplete. In this paper, it was clarified that liquid silicone and compound high polymer silicone formed by polymerization and they induce contact failures. Large energy discharge causes SiO_2+C, contact failures are occurred by the decomposition products. Furthermore, mechanism of formed C is also discussed. |
| キーワード(和) | シリコーン蒸気 / シリコーン汚染 / 接触不良 / 小形リレー / シリコーンの熱分解 |
| キーワード(英) | silicone vapor / contamination / contact failure / thermal decomposition of silicone |
| 資料番号 | R2007-61,EMD2007-116 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2008/2/8(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 : 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Decomposition processes of silicone and electrical contact failure : Influence of silicone contamination on contact devices |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | シリコーン蒸気 / silicone vapor |
| キーワード(2)（和/英） | シリコーン汚染 / contamination |
| キーワード(3)（和/英） | 接触不良 / contact failure |
| キーワード(4)（和/英） | 小形リレー / thermal decomposition of silicone |
| キーワード(5)（和/英） | シリコーンの熱分解 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三重大学大学院工学研究科社会連携講座 Mie University, Graduate School of Engineering, Laboratory of Vehicle Network Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori |
| 第 2 著者 所属（和/英） | (株)オートネットワーク技術研究所 AutoNetworks, Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 池田 博榮 / Hirosaka Ikeda |
| 第 3 著者 所属（和/英） | (株)オートネットワーク技術研究所 AutoNetworks, Ltd. |
| 発表年月日 | 2008-02-15 |
| 資料番号 | R2007-61,EMD2007-116 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 485 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |