講演名 2008-02-29
T-Codeを用いた乱数検定手法の構成法について(情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会)
濱野 健二, 山本 博資,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) T-Codeを用いた新しい乱数検定手法を提案する.T-Codeは,Mark Titchenerによって1984年に提案された自己同期する可変長符号である.T-decompositionと呼ばれる変換により,系列とT-Codeとを対応させて,系列をT-prefixと呼ばれる部分系列に分解することができる.これらの部分系列は,系列に対応するT-Codeを再帰的に生成するアルゴリズムのパラメータになっている.本検定は,これらの部分系列の個数(T-complexity)に基づく.更に,系列の先頭から順にT-prefixを決定するT-decompositionの方法と,木構造を利用した効率の良いアルゴリズムを提案する.このアルゴリズムは,T-decompositionの計算時間を削減し,本検定の計算時間を実用的にしている.また,本検定の妥当性は,T-complexity,P値等の経験分布によって確かめられている.
抄録(英) We propose a new randomness test based on T-Codes. T-Codes are variable-length self-synchronization codes introduced by Mark Titchener in 1984. A given sequence is related to a T-Code set by T-decomposition, and it is decomposed into sub-sequences called T-prefixes which are a series of parameters obtained by a recursive construction algorithm of the T-Code set. In our test, the number of the sub-sequences called T-complexity is used. Furthermore, we propose a new T-decomposition, which can determine the T-prefixes from the beginning to the end of a sequence, and an efficient algorithm of the new T-decomposition by using a tree structure. Reducing the computation time of the T-decomposition, this algorithm makes our new test suitable for practical use in the sense of computational complexity. The validity of our test is also verified by the empirical distribution of T-complexity and P-value.
キーワード(和) 乱数検定 / T-Code / T-decomposition / NIST SP800-22 / Lempel-Ziv圧縮検定 / 複雑度
キーワード(英) randomness test / T-Code / T-decomposition / NIST SP800-22 / Lempel-Ziv compression test / complexity
資料番号 IT2007-55,ISEC2007-152,WBS2007-86
発行日

研究会情報
研究会 WBS
開催期間 2008/2/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Wideband System(WBS)
本文の言語 JPN
タイトル(和) T-Codeを用いた乱数検定手法の構成法について(情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Construction of Randomness Testing Based on T-Codes
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 乱数検定 / randomness test
キーワード(2)(和/英) T-Code / T-Code
キーワード(3)(和/英) T-decomposition / T-decomposition
キーワード(4)(和/英) NIST SP800-22 / NIST SP800-22
キーワード(5)(和/英) Lempel-Ziv圧縮検定 / Lempel-Ziv compression test
キーワード(6)(和/英) 複雑度 / complexity
第 1 著者 氏名(和/英) 濱野 健二 / Kenji HAMANO
第 1 著者 所属(和/英) 東京大学大学院新領域創成科学研究科
Graduate School of Frontier Sciences, The University of Tokyo
第 2 著者 氏名(和/英) 山本 博資 / Hirosuke YAMAMOTO
第 2 著者 所属(和/英) 東京大学大学院新領域創成科学研究科
Graduate School of Frontier Sciences, The University of Tokyo
発表年月日 2008-02-29
資料番号 IT2007-55,ISEC2007-152,WBS2007-86
巻番号(vol) vol.107
号番号(no) 503
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日