講演名 | 2008-02-29 T-Codeを用いた乱数検定手法の構成法について(情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会) 濱野 健二, 山本 博資, |
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抄録(和) | T-Codeを用いた新しい乱数検定手法を提案する.T-Codeは,Mark Titchenerによって1984年に提案された自己同期する可変長符号である.T-decompositionと呼ばれる変換により,系列とT-Codeとを対応させて,系列をT-prefixと呼ばれる部分系列に分解することができる.これらの部分系列は,系列に対応するT-Codeを再帰的に生成するアルゴリズムのパラメータになっている.本検定は,これらの部分系列の個数(T-complexity)に基づく.更に,系列の先頭から順にT-prefixを決定するT-decompositionの方法と,木構造を利用した効率の良いアルゴリズムを提案する.このアルゴリズムは,T-decompositionの計算時間を削減し,本検定の計算時間を実用的にしている.また,本検定の妥当性は,T-complexity,P値等の経験分布によって確かめられている. |
抄録(英) | We propose a new randomness test based on T-Codes. T-Codes are variable-length self-synchronization codes introduced by Mark Titchener in 1984. A given sequence is related to a T-Code set by T-decomposition, and it is decomposed into sub-sequences called T-prefixes which are a series of parameters obtained by a recursive construction algorithm of the T-Code set. In our test, the number of the sub-sequences called T-complexity is used. Furthermore, we propose a new T-decomposition, which can determine the T-prefixes from the beginning to the end of a sequence, and an efficient algorithm of the new T-decomposition by using a tree structure. Reducing the computation time of the T-decomposition, this algorithm makes our new test suitable for practical use in the sense of computational complexity. The validity of our test is also verified by the empirical distribution of T-complexity and P-value. |
キーワード(和) | 乱数検定 / T-Code / T-decomposition / NIST SP800-22 / Lempel-Ziv圧縮検定 / 複雑度 |
キーワード(英) | randomness test / T-Code / T-decomposition / NIST SP800-22 / Lempel-Ziv compression test / complexity |
資料番号 | IT2007-55,ISEC2007-152,WBS2007-86 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | WBS |
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開催期間 | 2008/2/22(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Wideband System(WBS) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | T-Codeを用いた乱数検定手法の構成法について(情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Construction of Randomness Testing Based on T-Codes |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 乱数検定 / randomness test |
キーワード(2)(和/英) | T-Code / T-Code |
キーワード(3)(和/英) | T-decomposition / T-decomposition |
キーワード(4)(和/英) | NIST SP800-22 / NIST SP800-22 |
キーワード(5)(和/英) | Lempel-Ziv圧縮検定 / Lempel-Ziv compression test |
キーワード(6)(和/英) | 複雑度 / complexity |
第 1 著者 氏名(和/英) | 濱野 健二 / Kenji HAMANO |
第 1 著者 所属(和/英) | 東京大学大学院新領域創成科学研究科 Graduate School of Frontier Sciences, The University of Tokyo |
第 2 著者 氏名(和/英) | 山本 博資 / Hirosuke YAMAMOTO |
第 2 著者 所属(和/英) | 東京大学大学院新領域創成科学研究科 Graduate School of Frontier Sciences, The University of Tokyo |
発表年月日 | 2008-02-29 |
資料番号 | IT2007-55,ISEC2007-152,WBS2007-86 |
巻番号(vol) | vol.107 |
号番号(no) | 503 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 8 |
発行日 |