| 講演名 | 2008-02-08 複数の観測トランジスタとデータサンプリングを使用したアナログ回路の診断(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般) 加藤 二郎, 三浦 幸也, |
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| 抄録(和) | アナログ回路の故障診断法として、X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用した故障診断法が提案されている。X-Yゾーン法は、回路の入出力特性を利用して故障を検出するアナログ回路の故障検出法であり、動作領域モデルは、MOSトランジスタの動作領域を利用して回路をモデル化する方法である。本論文では、X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用した診断法を拡張した診断方法として、複数個の観測トランジスタを使用する診断法と、複数のデータサンプリングを行う診断法を提案する。提案した方法について、ITC'97の2つのベンチマーク回路のソフト故障とハード故障を対象に診断シミュレーションを行い、提案法の有効性の評価を行った。その結果、診断分解能の向上と診断系列長、処理量の削減に効果があることを確認した。 |
| 抄録(英) | In this paper, we propose two methods for diagnosing analog circuits by using multiple transistors and data samplings, which are based on the operation-region model and the X-Y zoning method. The X-Y zoning method uses the characteristics of circuit input voltage and output voltage. The operation-region model can be used for modeling circuit behaviors by utilizing changes in the operation regions of MOS transistors. We demonstrate the effectiveness of the proposed methods by applying them to ITC'97 benchmark circuits with hard faults and soft faults. These methods can improve diagnostic performance and reduce a diagnostic sequence length and processing time. |
| キーワード(和) | アナログ回路 / 故障診断 / MOSトランジスタ / 動作領域モデル / X-Yゾーン法 |
| キーワード(英) | Analog circuits / Fault diagnosis / MOS transistors / Operation-region model / X-Y zoning method |
| 資料番号 | DC2007-82 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2008/2/1(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 複数の観測トランジスタとデータサンプリングを使用したアナログ回路の診断(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fault Diagnosis of Analog Circuits by Using Multiple Transistors and Data Samplings |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | アナログ回路 / Analog circuits |
| キーワード(2)（和/英） | 故障診断 / Fault diagnosis |
| キーワード(3)（和/英） | MOSトランジスタ / MOS transistors |
| キーワード(4)（和/英） | 動作領域モデル / Operation-region model |
| キーワード(5)（和/英） | X-Yゾーン法 / X-Y zoning method |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 加藤 二郎 / Jiro KATO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 首都大学東京大学院システムデザイン研究科 Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 三浦 幸也 / Yukiya MIURA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 首都大学東京大学院システムデザイン研究科 Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University |
| 発表年月日 | 2008-02-08 |
| 資料番号 | DC2007-82 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 482 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |