講演名 2008-04-18
光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析(光部品の実装・信頼性,一般)
竹下 達也, 伊賀 龍三, 須郷 満, 近藤 康洋,
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抄録(和) 光励起電流測定法を用い、高温におけるInGaAsP-DFBレーザの劣化姿態が研究された。Ru添加InP SIBHを導入したDFBレーザは85℃の高温で長期安定動作することが確認された。OBIC測定法によって、SCH層の劣化は活性層の劣化に比べ大きいことがわかった。レーザの劣化機構は断面垂直方向の拡散によるものであると傍証される。
抄録(英) We investigated the degradation behavior of InGaAsP distributed feedback lasers (DFBs) at high temperature by employing the optical-beam-induced current (OBIC) measurement technique. The DFB lasers with Ru-doped semi-insulating buried heterostructure operated very stably at an ambient temperature of 85℃. It is found that there is more degradation in the SCH layer than in the active layer. We presume that the degradation mechanism is governed by diffused defects with a vertical direction in the crystal plane.
キーワード(和) 半導体レーザ / 量子井戸レーザ / 故障解析 / 信頼性 / エイジング
キーワード(英) semiconductor lasers / quantum well lasers / failure analysis / reliability / aging
資料番号 R2008-3,CPM2008-3,OPE2008-3
発行日

研究会情報
研究会 OPE
開催期間 2008/4/11(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Optoelectronics (OPE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析(光部品の実装・信頼性,一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Analysis of Wear-Out Degradation of a Ru-doped SIBH InGaAsP DFB laser Using an Optical-Beam-Induced Current Monitor
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 半導体レーザ / semiconductor lasers
キーワード(2)(和/英) 量子井戸レーザ / quantum well lasers
キーワード(3)(和/英) 故障解析 / failure analysis
キーワード(4)(和/英) 信頼性 / reliability
キーワード(5)(和/英) エイジング / aging
第 1 著者 氏名(和/英) 竹下 達也 / Tatsuya TAKESHITA
第 1 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 伊賀 龍三 / Ryuzo IGA
第 2 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 須郷 満 / Mitsuru SUGO
第 3 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation
第 4 著者 氏名(和/英) 近藤 康洋 / Yasuhiro Kondo
第 4 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation
発表年月日 2008-04-18
資料番号 R2008-3,CPM2008-3,OPE2008-3
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 9
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日