| 講演名 | 2008-04-23 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般) 中島 健吾, 難波 一輝, 伊藤 秀男, |
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| 抄録(和) | 近年のVLSIの微細化に伴い,ソフトエラーの発生率が増加し,ソフトエラー対策技術が重要となってきている.ソフトエラー対策の一つに耐ソフトエラーラッチがある.このラッチには製造時におけるオープン故障やショート故障などの固定故障の一部に通常の製造テストでは検出できない故障がある.このような固定故障が発生しているラッチは,通常入力には正しく動作する.しかし,十分なソフトエラー耐性を持たないことが予想される.本論文では耐ソフトエラーラッチに検出不可能なオープン故障,またはショート故障がある場合について,そのラッチのソフトエラー耐性を明らかにしている.例えば,既存の耐ソフトエラーラッチにオープン故障が発生しているときは一時間当たり8.663×10^<-17>回,ショート故障が発生しているときは9.790×10^<-17>回,ラッチの出力が誤る.これは,ソフトエラー対策をしていないラッチに比べ,10^<-4>～10^<-5>程度ソフトエラー発生率が低下しているといえる. |
| 抄録(英) | In recent high-density, high-speed and low-power VLSIs, soft errors frequently occur, and soft error hardened design becomes essential. Soft error hardened latches were proposed as one of techniques correcting soft errors occurring on latches in VLSI systems. Some manufacturing faults occurring on the soft error hardened latches are untestable. Even if such faults occur, the latches work correctly as long as no soft errors occur. However, the faulty latches may have only lower soft error correcting copability than fault-free latches. This paper provides an analysis of soft error correcting capability of soft error hardened latches that untestable manufacturing open and short faults occur. On soft error hardened latches that open and short fault occur, uncorrectable soft errors occur 8.663×10^<-17> and 9.789×10^<-17>times per an hour, respectively. The probability that uncorrectable soft errors occur on faulty circuits with soft error hardened latches is 10^<-4>～10^<-5>times lower than one that softerrors occur on fault-free circuits without soft error hardened latches. |
| キーワード(和) | ソフトエラー / ラッチ / ソフトエラー発生率 / オープン故障 / ショート故障 |
| キーワード(英) | Soft Error / Latch / Soft Error Rate / Open Fault / Short Fault |
| 資料番号 | CPSY2008-8,DC2008-8 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY |
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| 開催期間 | 2008/4/16(から1日開催) |
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| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Computer Systems (CPSY) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Influence of Untestable Hard Error on Soft Error Hardened Latches |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / Soft Error |
| キーワード(2)（和/英） | ラッチ / Latch |
| キーワード(3)（和/英） | ソフトエラー発生率 / Soft Error Rate |
| キーワード(4)（和/英） | オープン故障 / Open Fault |
| キーワード(5)（和/英） | ショート故障 / Short Fault |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中島 健吾 / Kengo NAKASHIMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 千葉大学大学院融合科学研究科 Graduate School of Advanced Integration Science, Chiba University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 難波 一輝 / Kazuteru NAMBA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 千葉大学大学院融合科学研究科 Graduate School of Advanced Integration Science, Chiba University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 伊藤 秀男 / Hideo ITO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 千葉大学大学院融合科学研究科 Graduate School of Advanced Integration Science, Chiba University |
| 発表年月日 | 2008-04-23 |
| 資料番号 | CPSY2008-8,DC2008-8 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 14 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |