| 講演名 | 2008/3/20 Eclipse上に実装した組込みシステムのコード品質解析システム(SoC・解析,組込技術とネットワークに関するワークショップETNET2008) 中村 祐一, 撫原 恒平, |
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| 抄録(和) | 近年、組込みシステムの複雑化によって組込みソフトウエアの開発工数の長大化か問題となっている。この原因はコーディングの複雑化よりも、不具合の原因追求や性能品質の解析などの検証の問題と考えられている。しかし、組込みシステム本体は低コスト性が重要とされるため、そのシステム単体で動作する最低限の動作環境しか保持しておらず、問題の解析機能は保有していないのが一般的である。そのため、不具合や性能の解析やシ品質管理などは精度の低いシミュレータや、実機を利用したアドホック環境に実行せざるを得ず、効率が非常に悪かった。本稿では、組込みシステム側にリモートPCからの制御を代行するStubを常駐することにより、ネットワークで接続したリモートPCからStubを制御してコード品質解析を行うシステムを開発した。リモートPC上では統合開発環境であるEclipseのTPTPを経由してStubの制御、結果の表示などを行うため、効率のよいコード品質解析フローを構築可能である。今回、メモリ管理のValgrindとカバレッジ解析であるGcovを組込みシステム側で実行させ、Eclipse上のGUIで解析結果を表示するシステムを実装し、デバッグ環境が貧弱な組込みシステムに対してもエンタープライズ系と同じようなコード品質解析が可能であることを実証した。 |
| 抄録(英) | Recently, the development term of embedded systems is increasing, since the embedded systems are going to be complicated. The reason of increasing is not the coding phase but the function, performance or quality evaluation. However, an evaluation system of embedded systems is very poor, because they has the minimum systems for their primary functions. In this paper, we propose a code quality analysis tool for embedded systems. The proposed system consists of "stub" in embedded systems and the control PC. The PC controls stub to apply the code quality system and to obtain the results of analysis. The PC is implemented "Eclipse" for effective control and rich GUI. In evaluation, the systems which is "valgrind", memory management system and "gcov" coverage tool are applied in the embedded system and PC can visualize the analysis results via our proposed stub. We realize the useful code quality systems in embedded system like as enterprise systems. |
| キーワード(和) | 組込みシステム / 品質解析 / Eclipse |
| キーワード(英) | Embedded System / Code quality analysis / Eclipse |
| 資料番号 | CPSY2007-104,DC2007-108 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY |
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| 開催期間 | 2008/3/20(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Computer Systems (CPSY) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Eclipse上に実装した組込みシステムのコード品質解析システム(SoC・解析,組込技術とネットワークに関するワークショップETNET2008) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Code Quality Analysis Toolset for Embedded Systems by using Eclipse |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込みシステム / Embedded System |
| キーワード(2)（和/英） | 品質解析 / Code quality analysis |
| キーワード(3)（和/英） | Eclipse / Eclipse |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中村 祐一 / Yuichi Nakamura |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NECシステムIPコア研究所 System IP Core Laboratories, NEC Corp. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 撫原 恒平 / Kouhei Nadehara |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NECシステムIPコア研究所 System IP Core Laboratories, NEC Corp. |
| 発表年月日 | 2008/3/20 |
| 資料番号 | CPSY2007-104,DC2007-108 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 558 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |