| 講演名 | 2008/3/20 システムレベル設計記述に対する具体値・記号値シミュレーションによる入力パターンの自動生成手法(SoC・解析,組込技術とネットワークに関するワークショップETNET2008) 小島 慶久, 西原 佑, 松本 剛史, 藤田 昌宏, |
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| 抄録(和) | システムの大規模複雑化に伴い,シミュレーションベースの検証やデバッグにおいて,人手による入力パターンの作成が困難になってきている.そこで本研究では,設計記述を拡張システム依存グラフで表現し,設計記述に対して具体値および記号値によるシミュレーションを行い,アサーション違反を引き起こすような入力パターンの自動生成を行う手法を提案する.これにより,入力パターンの作成の自動化を支援し,また,ランダムシミュレーションでは扱いにくいようなコーナーケースの活性化および不具合の発見,コードカバレッジの改善を目指す. |
| 抄録(英) | As the VLSI systems grow larger and more complicated, it becomes more difficult to manually prepare the input patterns on simulation-based verification and debugging. In this research, we try to automatically generate the input patterns which cause the assertion failure, by exercising concrete and symbolic simulations simultaneously on the design descriptions in the extended system dependence graphs. Our goals are i) to promote to automate the input pattern generation process, ii) to activate the corner-cases and discover the bugs hard to find by random simulation, and iii) to achieve a better code coverage. |
| キーワード(和) | 記号シミュレーション / 記号・具体混合シミュレーション / 入力パターン生成 / 検証 / コードカバレッジ |
| キーワード(英) | symbolic simulation / concrete/symbolic-hybrid simulation / input pattern generation / verification / code coverage |
| 資料番号 | CPSY2007-102,DC2007-106 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY |
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| 開催期間 | 2008/3/20(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Computer Systems (CPSY) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | システムレベル設計記述に対する具体値・記号値シミュレーションによる入力パターンの自動生成手法(SoC・解析,組込技術とネットワークに関するワークショップETNET2008) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A technique of automatic input pattern generation for system-level design descriptions by concrete and symbolic simulations |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 記号シミュレーション / symbolic simulation |
| キーワード(2)（和/英） | 記号・具体混合シミュレーション / concrete/symbolic-hybrid simulation |
| キーワード(3)（和/英） | 入力パターン生成 / input pattern generation |
| キーワード(4)（和/英） | 検証 / verification |
| キーワード(5)（和/英） | コードカバレッジ / code coverage |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小島 慶久 / Yoshihisa KOJIMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻 Electronic Engineering, the University of Tokyo |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 西原 佑 / Tasuku NISHIHARA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻 Electronic Engineering, the University of Tokyo |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 松本 剛史 / Takeshi MATSUMOTO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻 Electronic Engineering, the University of Tokyo |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 藤田 昌宏 / Masahiro FUJITA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター VLSI Design and Education Center, the University of Tokyo |
| 発表年月日 | 2008/3/20 |
| 資料番号 | CPSY2007-102,DC2007-106 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 558 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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