| 講演名 | 2008-01-18 対称SIFT特徴量を用いた対称性平面物体検出(一般セッション4,CV/PR技術のVRへの応用) 佐野 友祐, 呉 海元, 和田 俊和, 陳 謙, |
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| 抄録(和) | 本論文では、対称SIFT特徴量を提案する.対称SIFT特徴量とは、SIFT特徴量記述の際に特徴点の周辺領域の座標系を正規化して得られる特徴量である.対称ペアである特徴点間の類似度評価が可能となり,擬似的に対称性平面物体のアフィン変換にも対応する.提案手法では,対称SIFT特徴量とスケール情報を用いて,一枚の入力画像から対称性平面物体の検出を行う.提案手法の有効性を,複数枚の実物体を用いた実験で確認した. |
| 抄録(英) | In thie paper, a mirrored SIFT feature is proposed for detecting plane-symmtric objects. This feature can be used to evaluate the symmetric-pair likeness of feature points of a pseudo affine transformed plane-symmetric object. Plane-symmetric object detection is carried out by using the proposed mirrored SIFT feature and scale feature. The effectiveness has been confirmed through several experiments using real images. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | PRMU2007-191 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | PRMU |
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| 開催期間 | 2008/1/10(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Pattern Recognition and Media Understanding (PRMU) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 対称SIFT特徴量を用いた対称性平面物体検出(一般セッション4,CV/PR技術のVRへの応用) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Plane-Symmetric Object Detction using Symmetrical SIFT Features |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 佐野 友祐 / Yuusuke SANO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 和歌山大学システム工学部 Graduate School of System-Engineering Wakayama University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 呉 海元 / Haiyuan WU |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 和歌山大学システム工学部 Graduate School of System-Engineering Wakayama University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 和田 俊和 / Toshikazu WADA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 和歌山大学システム工学部 Graduate School of System-Engineering Wakayama University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 陳 謙 / Qian CHEN |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 和歌山大学システム工学部 Graduate School of System-Engineering Wakayama University |
| 発表年月日 | 2008-01-18 |
| 資料番号 | PRMU2007-191 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 427 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |