| 講演名 | 2008-01-18 伝送線路測定による材料定数の抽出と電磁界解析への適用(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般) 鳥屋尾 博, 若林 良昌, |
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| 抄録(和) | GHz帯の高周波領域では誘電材料等の材料定数が電磁界解析の精度を左右する。本報告ではプリント配線板状のマイクロストリップ配線の伝送特性から基板表面上のソルダーレジストの比誘電率を求める近似式を提案し、抽出した比誘電率を電磁界解析に適用することで解析精度が向上することを示す。またシングルエンド配線測定から抽出した比誘電率を、電解分布の異なる差動配線の電磁界解析モデルに適用した場合も解析結果が実測と一致することを示した。この結果から18GHz程度の周波数領域では、材料定数の異方性が伝送特性に与える影響は小さいと考えられる。 |
| 抄録(英) | The material constants of dielectric materials such as solder resist have a large influence on the accuracy of the electromagnetic field analysis in the high frequency. In this report, we propose an approximation formula of effective dielectric constant of micro strip line (MSL) covered with solder resist, and an extraction method of solder resist dielectric constant from MSL measurement data. We have confirmed the accuracy of extracted material constants by comparing the measurement data and the data simulated with these constants. In addition, we show that the influence of material constant anisotropy on MSL transmission property is relatively small up to the frequency of about 18GHz. |
| キーワード(和) | プリント配線板 / 材料定数 / 伝送線路 |
| キーワード(英) | printed circuit board / material constant / transmission line |
| 資料番号 | CPM2007-142,ICD2007-153 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2008/1/10(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 伝送線路測定による材料定数の抽出と電磁界解析への適用(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Extraction Method of Material Constants by Transmission Line Measurements |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | プリント配線板 / printed circuit board |
| キーワード(2)（和/英） | 材料定数 / material constant |
| キーワード(3)（和/英） | 伝送線路 / transmission line |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鳥屋尾 博 / Hiroshi TOYAO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社システム実装研究所 System Jisso Research Laboratories, NEC Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 若林 良昌 / Yoshiaki WAKABAYASHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社システム実装研究所 System Jisso Research Laboratories, NEC Corporation |
| 発表年月日 | 2008-01-18 |
| 資料番号 | CPM2007-142,ICD2007-153 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 426 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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