| 講演名 | 2008-01-18 RFテスト・診断向け小面積RF信号品質観測マクロの開発(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般) 野瀬 浩一, 水野 正之, |
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| 抄録(和) | 従来、専用装置でチップごとに評価していたRFの信号品質テストをデジタルテスタを用いてテスト可能にするオンチップRF信号品質測定マクロを開発した。特徴として(1)マクロ外で生成する参照クロックの周波数が低いテスタを用いても高周波なRF信号強度を測定可能にするウィンドウシフト測定技術(window-shifting measurement technique)(2)3次/5次電力・オフセット電圧・位相差による測定誤差を簡単な演算でキャンセル可能な重み付け加算技術(stair-like weighted addition technique)の開発を行った。本マクロを90nmプロセスで設計したところ、面積は周辺回路込みで0.016mm^2と、従来のオンチップスペクトル観測マクロの1/10の面積となった。また、Zigbee向け(2.4GHz)送信機のパワーアンプ出力を本マクロを用いて測定したところ、キャリア周波数でのパワーの測定誤差は1dB以内とテストに適用するには十分な良好な値が得られた。また、高調波測定に関しても、FCC規格に違反する-20dBm異常の異常高調波を検知可能であることを示した。 |
| 抄録(英) | Our RF signal-quality measurement macro employs 1) a new window-shifting measurement technique that obtains the power of a high-frequency component on the basis of lower-frequency measurements, and 2) a new stair-like weighted addition technique that decreases error due to harmonic power, phase, and DC offset in measured signals. The macro occupies only 1/10 the area of conventional on-chip spectrum analyzers. Carrier power for 2.4GHz-Tx was successfully measured with digital testers alone, with an error of only <1dB, and harmonic-emission exceeding FCC regulations (>-20dBm) was also successfully detected. |
| キーワード(和) | 無線 / テスト / スペクトラム測定 / 高調波測定 |
| キーワード(英) | Radiofrequency testing / Spectrum measurement / Harmonic analysis |
| 資料番号 | CPM2007-138,ICD2007-149 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2008/1/10(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | RFテスト・診断向け小面積RF信号品質観測マクロの開発(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A compact RF signal quality measurement macro for RF test and diagnosis |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 無線 / Radiofrequency testing |
| キーワード(2)（和/英） | テスト / Spectrum measurement |
| キーワード(3)（和/英） | スペクトラム測定 / Harmonic analysis |
| キーワード(4)（和/英） | 高調波測定 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 野瀬 浩一 / Koichi NOSE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NECデバイスプラットフォーム研究所 Device Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 水野 正之 / Masayuki MIZUNO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NECデバイスプラットフォーム研究所 Device Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 発表年月日 | 2008-01-18 |
| 資料番号 | CPM2007-138,ICD2007-149 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 426 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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