| 講演名 | 2008-01-17 1mV電圧分解能・5ns時間分解能のオンチップ電源電圧変動モニタリング技術の提案(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般) 菅野 雄介, 近藤 雄樹, 入田 隆宏, 廣瀬 健志, 森 涼, 安 義彦, 小松 成亘, 水野 弘之, |
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| 抄録(和) | SoCが動作中の電源ノイズ分布を測定するためのオンチップ電源電圧変動モニタ技術を開発した。本方式は、チップ内のローカルな電圧変動をリングオシレータにより周波数変動信号に変換し、チップ外部の高精度デジタル信号処理によって電圧変動に再度変換することで計測するものである。電圧値の校正にはPCを利用する。本技術により、90nm CMOSプロセスの携帯電話向けSOCの電圧変動を電圧分解能1mV、時間分解能5nsの精度で計測することが可能になった。 |
| 抄録(英) | An in-situ measurement scheme for generating supply-noise maps, which can be conducted while running applications in product-level LSIs, was developed. The design of the on-chip voltage sampling probe is based on a simple ring oscillator, which converts local supply difference between V_ |
| キーワード(和) | 電源ノイズ / オンチップ / 電源電圧変動モニタ技術 / リングオシレータ / 90nm / 携帯電話向けSOC |
| キーワード(英) | in-situ measurement / supply-noise maps / on-chip voltage sampling probe / ring oscillator / off-chip digital signal processing / calibration |
| 資料番号 | CPM2007-136,ICD2007-147 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2008/1/10(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 1mV電圧分解能・5ns時間分解能のオンチップ電源電圧変動モニタリング技術の提案(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | In-situ measurement of supply-noise maps with millivolt accuracy and nanosecond-order time resolution |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源ノイズ / in-situ measurement |
| キーワード(2)（和/英） | オンチップ / supply-noise maps |
| キーワード(3)（和/英） | 電源電圧変動モニタ技術 / on-chip voltage sampling probe |
| キーワード(4)（和/英） | リングオシレータ / ring oscillator |
| キーワード(5)（和/英） | 90nm / off-chip digital signal processing |
| キーワード(6)（和/英） | 携帯電話向けSOC / calibration |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 菅野 雄介 / Yusuke KANNO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | (株)日立製作所中央研究所 Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 近藤 雄樹 / Yuki KONDOH |
| 第 2 著者 所属（和/英） | (株)日立製作所中央研究所 Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 入田 隆宏 / Takahiro IRITA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | (株)ルネサステクノロジ Renesas Technology, Corp. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 廣瀬 健志 / Kenji HIROSE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | (株)ルネサステクノロジ Renesas Technology, Corp. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 森 涼 / Ryo MORI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | (株)ルネサステクノロジ Renesas Technology, Corp. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 安 義彦 / Yoshihiko YASU |
| 第 6 著者 所属（和/英） | (株)ルネサステクノロジ Renesas Technology, Corp. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 小松 成亘 / Shigenobu KOMATSU |
| 第 7 著者 所属（和/英） | (株)日立製作所中央研究所 Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd. |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 水野 弘之 / Hiroyuki MIZUNO |
| 第 8 著者 所属（和/英） | (株)日立製作所中央研究所 Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd. |
| 発表年月日 | 2008-01-17 |
| 資料番号 | CPM2007-136,ICD2007-147 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 426 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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