講演名 2008-01-17
オンチップモニタ技術と電源インテグリティ評価(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
永田 真,
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抄録(和) オンチップの電源・グラウンド・基板雑音や回路信号のモニタ技術により、実LSIチップ内部における電源系雑音の発生および回路動作への影響についての理解が進んでいる。デジタル回路内部に埋め込み可能な小型の雑音検出装置、LSIチップ全体の各所を観測可能な多チャンネルの信号モニタ回路について紹介するとともに、プロセッサ・チップにおける回路動作時のチップ内ダイナミック雑音や、プリント基板に実装されたデジタルLSIチップにおける電磁環境両立性など、LSIの電源インテグリティ評価の実例を紹介する。
抄録(英) On-Chip monitoring techniques has been applied for detailed understanding of power-supply, ground, as well as substrate noises in a practical LSI chips, in terms of noise generation as well as noise impact on circuit operation. This article introduces a compact noise monitor circuit that can be buried into digital integrated circuits operation. This article introduces a compact noise monitor circuit that can be buried into digital integrated circuits and also on-chip multi-channel monitor system that can probe noise and signals at a variety of points ditributed in a LSI chip. Power-supply integrity measurements demonstrated include dynamic noise inside a processor during its operation and also electromagnetic compatibility (EMC) of digital LSI chip mounted on a printed circuit board.
キーワード(和) 埋め込み型雑音検出回路 / マルチチャネル信号モニタ / シグナルインテグリティ
キーワード(英) Buit-in noise monitor circuit / Multi-channel signal monitor / Signal integrity
資料番号 CPM2007-134,ICD2007-145
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2008/1/10(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) オンチップモニタ技術と電源インテグリティ評価(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) On-Chip Monitoring Technique and Evaluation of Power-Supply Integrity
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 埋め込み型雑音検出回路 / Buit-in noise monitor circuit
キーワード(2)(和/英) マルチチャネル信号モニタ / Multi-channel signal monitor
キーワード(3)(和/英) シグナルインテグリティ / Signal integrity
第 1 著者 氏名(和/英) 永田 真 / Makoto NAGATA
第 1 著者 所属(和/英) 神戸大学大学院工学研究科情報知能学専攻
Department of Computer Science and Systems Engineering, Graduate School of Engineering, Kobe University
発表年月日 2008-01-17
資料番号 CPM2007-134,ICD2007-145
巻番号(vol) vol.107
号番号(no) 426
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日