| 講演名 | 2008-01-17 デジタルLSIにおけるオンチップ電源雑音とオフチップ電磁雑音の統合評価(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般) 高橋 裕樹, 市川 浩司, 永田 真, |
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| 抄録(和) | EMIとLSI動作の関係を調査するために,0.18μmCMOSスタンダードロジックセルのデジタルテスト回路の電源ノイズ波形を,測定分解能0.3ns/1.2mVにてオンチップモニタによって取得した.また,テスト回路の電源電流によるPCB(printed circuite board)の磁界変化をオフチップの磁界プローブ手法を利用して測定した.オンチップとオフチップのインピーダンスネットワークを統合した等価回路モデルを,オフチップの電源電流による磁場変化からオンチップの電源電位変動を計算するために利用した.オンチップモニタとオフチップの電磁プローブ手法による電源雑音測定結果は,300MHz以下の周波数成分について良く一致することを見出した.本研究は,回路レベルのオンチップ電源雑音測定とボードレベルの電磁雑音評価を初めて統合したものである. |
| 抄録(英) | Power Supply noise waveform are acquired in a voltage domain by on-chip monitor at resolution of 0.3ns / 1.2mV, in a digital test circuit consisting of 0.18μm CMOS standard logic cells. Concurrently magnetic field variation on a printed circuit board (PCB) due to power supply current of the test circuit is measured by an off-chip magnetic probing technique. An equivalent circuit model that unifies on- and off- chip impedance network of the entire test setup for EMI analysis is used for calculating the on-chip voltage-mode power supply noise from the off-chip magnetic field measurements. We have confirmed exellent consistency in frequency components of power supply noise up to 300MHz among those derived by the on-chip direct sensing and the off-chip magnetic probing techniques. These results not only validate thee state-of-the art EMI analysis methodology but also promise its connectivity with on-chip power supply integrity analysis at the integrated circuit level, for the first time in both technical fields. |
| キーワード(和) | LSI / EMI / PCB / シグナルインテグリティ / パワーインテグリティ / インテグレーティッド解析 |
| キーワード(英) | large scale integration / electro magnetic interference / printed circuit board / signal integrity / power supply integrity / integrated analysis |
| 資料番号 | CPM2007-129,ICD2007-140 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2008/1/10(から1日開催) |
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| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | デジタルLSIにおけるオンチップ電源雑音とオフチップ電磁雑音の統合評価(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Integrated evaluation of on-chip power supply noise and off-chip electromagnetic noise of digital LSI |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | LSI / large scale integration |
| キーワード(2)（和/英） | EMI / electro magnetic interference |
| キーワード(3)（和/英） | PCB / printed circuit board |
| キーワード(4)（和/英） | シグナルインテグリティ / signal integrity |
| キーワード(5)（和/英） | パワーインテグリティ / power supply integrity |
| キーワード(6)（和/英） | インテグレーティッド解析 / integrated analysis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高橋 裕樹 / Yuki TAKAHASHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 神戸大学大学院自然科学研究科 Graduate School of Science and Technology, Kobe University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 市川 浩司 / Kouji ICHIKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社デンソー DENSO Co., Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto NAGATA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 神戸大学工学部情報知能工学科 Department of Computer and Systems Engineering, Kobe University |
| 発表年月日 | 2008-01-17 |
| 資料番号 | CPM2007-129,ICD2007-140 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 426 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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