| 講演名 | 2007-12-13 周波数粗調整と周波数線形化機能を有するインターポレイティブリングVCOを用いた広ロックレンジ,低位相雑音PLL(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI,回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ)) 児玉 浩志, 岡田 博之, 柳澤 潔, 石川 比呂夢, 田中 昭生, |
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| 抄録(和) | チューニングレンジと位相雑音とのトレードオフ関係を緩和するため,周波数が線形に制御されるコントロール電圧範囲の広いインターポレイティブリングVCOを新規に開発した。90-nmCMOSプロセスにより,このVCOを用いた広ロックレンジかつ低位相雑音なPLLのテストチップを設計した。テストチップは,528-MHz間隔で,3.432から4.488-GHz(HFモード)および6.600から9.240-GHz(LFモード)の周波数でロックした。消費電流は,電源電圧1.5-Vにおいて30から37-mAであった。積分位相誤差は,参照クロック周波数が264-MHzで両モードにおいて目標の4゜以下に,66-MHzでもLFモードにおいて4゜以下となった。 |
| 抄録(英) | To relax the trade-off relationship between tuning range and phase noise, we have developed a new interpolative ring-VCO having a wide control voltage range over which frequency variation is linear. A wide lock-range, low phase noise PLL incorporating this VCO has been fabricated in a 90nm CMOS process. It successfully operates at from 3.432 to 4.488GHz (LF-mode) and from 6.600 to 9.240GHz (HF-mode), with 528MHz spacing, while drawing 30 to 37mA from a 1.5V supply. Measured integrated phase noise is below a targeted 4 degrees in both modes when the reference frequency is 264MHz and less than 4 degrees in the LF-mode when it is 66MHz. |
| キーワード(和) | インターポレイティブリングVCO / PLL / ロックレンジ / 位相雑音 / CMOS |
| キーワード(英) | Interpolative ring-VCO / PLL / Lock-range / Phase noise / CMOS |
| 資料番号 | ICD2007-124 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2007/12/6(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 周波数粗調整と周波数線形化機能を有するインターポレイティブリングVCOを用いた広ロックレンジ,低位相雑音PLL(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI,回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ)) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Wide Lock-Range, Low Phase-Noise PLL using Interpolative Ring-VCO with Coarse Frequency Tuning and Frequency Linearization |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | インターポレイティブリングVCO / Interpolative ring-VCO |
| キーワード(2)（和/英） | PLL / PLL |
| キーワード(3)（和/英） | ロックレンジ / Lock-range |
| キーワード(4)（和/英） | 位相雑音 / Phase noise |
| キーワード(5)（和/英） | CMOS / CMOS |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 児玉 浩志 / Hiroshi Kodama |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 NEC Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 岡田 博之 / Hiroyuki Okada |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 NEC Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 柳澤 潔 / Kiyoshi Yanagisawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 NEC Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 石川 比呂夢 / Hiromu Ishikawa |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 NEC Corporation |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 田中 昭生 / Akio Tanaka |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 NEC Corporation |
| 発表年月日 | 2007-12-13 |
| 資料番号 | ICD2007-124 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 382 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |