| 講演名 | 2007-11-22 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 大川 眞一, 増田 弘生, |
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| 抄録(和) | VLSI設計における素子ばらつきの考慮は、現在、そして未来おける重大関心事である。しかも、素子測定、ばらつきのモデリング、設計への反映の各段階において、新たなる技術開発のステップが多数存在する。そしてその多くは独自の基本概念を必要とする革新的技術である。そのような多数の課題の一つ、測定データの異常値除去の方法を新たに開発した。基本統計量の歪度を応用している。正常データに対する副作用は少なく、異常なデータを効率的に除去することができる。素子ばらつきの評価に必要な、大規模測定の信頼性を、著しく向上させることが可能になる。 |
| 抄録(英) | Consideration of device variation in VLSI design, at present or in future, is very important concerns. Moreover, in each stage of device measurement, variation modeling or reflection on design, there are many steps of developments of technology. And then, many technologies are novel one needing unique basic concept. As one of such many problems, we have developed a new technique which eliminates irregular data in measured values. Skewness of basic statistic is applied to this. Side effects are small for regular data, while it eliminates irregular data efficiently A Reliability of large scale measurements, which is needed for evaluation of devise variation, is remarkably improved. |
| キーワード(和) | LSI / 設計 / ばらつき / 測定 / 異常値 / スクリーニング |
| キーワード(英) | LSI / design / variation / measurement / irregular value / screening |
| 資料番号 | VLD2007-90,DC2007-45 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2007/11/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A New Technique for Elimination of Irregular Data in Measured Values : A Data Screening Technique Appling Skewness of Basic Statistic |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | LSI / LSI |
| キーワード(2)（和/英） | 設計 / design |
| キーワード(3)（和/英） | ばらつき / variation |
| キーワード(4)（和/英） | 測定 / measurement |
| キーワード(5)（和/英） | 異常値 / irregular value |
| キーワード(6)（和/英） | スクリーニング / screening |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大川 眞一 / Shin-ichi OHKAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社ルネサステクノロジ Renesas Technology Corp. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 増田 弘生 / Hiroo MASDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社ルネサステクノロジ Renesas Technology Corp. |
| 発表年月日 | 2007-11-22 |
| 資料番号 | VLD2007-90,DC2007-45 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 336 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |