講演名 2007-11-22
プロセッサ設計におけるSTAとSSTAの解析結果比較および分析(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
伊藤 則之, 小松 裕成, 杉山 広行, 備前 直美, 井口 克己, 吉田 裕司,
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抄録(和) 半導体プロセスに微細化により、製造ばらつきが性能に与える影響が大きくなった。そのため、従来のタイミング解析(STA)でのワーストケース設計ではタイミング設計は困難となっており、新たに統計的タイミング解析(SSTA)の手法が導入され始めた。本論文では、プロセッサの設計において実際にSSTAを適用し、クリティカルパスでの従来のSTAでの解析結果との比較・分析を行った。
抄録(英) Due to decreasing feature sizes, process variation influences performance. Therefore, timing design by worst-case design based on traditional timing analysis (STA) is impractical. A new statistical timing analysis is introduced. In this paper, we compared between STA and SSTA results in microprocessor design.
キーワード(和) 統計的タイミング解析 / プロセッサ / クリティカルパス
キーワード(英) Statistical timing analysis / Microprocessor / Critical Path
資料番号 VLD2007-89,DC2007-44
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2007/11/15(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) プロセッサ設計におけるSTAとSSTAの解析結果比較および分析(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Comparison between STA and SSTA Results in Microprocessor Design
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 統計的タイミング解析 / Statistical timing analysis
キーワード(2)(和/英) プロセッサ / Microprocessor
キーワード(3)(和/英) クリティカルパス / Critical Path
第 1 著者 氏名(和/英) 伊藤 則之 / Noriyuki ITO
第 1 著者 所属(和/英) 富士通株式会社
Fujitsu Limited
第 2 著者 氏名(和/英) 小松 裕成 / Hiroaki KOMATSU
第 2 著者 所属(和/英) 富士通株式会社
Fujitsu Limited
第 3 著者 氏名(和/英) 杉山 広行 / Hiroyuki SUGIYAMA
第 3 著者 所属(和/英) 富士通株式会社
Fujitsu Limited
第 4 著者 氏名(和/英) 備前 直美 / Naomi BIZEN
第 4 著者 所属(和/英) 富士通株式会社
Fujitsu Limited
第 5 著者 氏名(和/英) 井口 克己 / Katsumi IGUCHI
第 5 著者 所属(和/英) 富士通株式会社
Fujitsu Limited
第 6 著者 氏名(和/英) 吉田 裕司 / Yuji YOSHIDA
第 6 著者 所属(和/英) 富士通株式会社
Fujitsu Limited
発表年月日 2007-11-22
資料番号 VLD2007-89,DC2007-44
巻番号(vol) vol.107
号番号(no) 336
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日