講演名 | 2007-11-22 プロセッサ設計におけるSTAとSSTAの解析結果比較および分析(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 伊藤 則之, 小松 裕成, 杉山 広行, 備前 直美, 井口 克己, 吉田 裕司, |
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抄録(和) | 半導体プロセスに微細化により、製造ばらつきが性能に与える影響が大きくなった。そのため、従来のタイミング解析(STA)でのワーストケース設計ではタイミング設計は困難となっており、新たに統計的タイミング解析(SSTA)の手法が導入され始めた。本論文では、プロセッサの設計において実際にSSTAを適用し、クリティカルパスでの従来のSTAでの解析結果との比較・分析を行った。 |
抄録(英) | Due to decreasing feature sizes, process variation influences performance. Therefore, timing design by worst-case design based on traditional timing analysis (STA) is impractical. A new statistical timing analysis is introduced. In this paper, we compared between STA and SSTA results in microprocessor design. |
キーワード(和) | 統計的タイミング解析 / プロセッサ / クリティカルパス |
キーワード(英) | Statistical timing analysis / Microprocessor / Critical Path |
資料番号 | VLD2007-89,DC2007-44 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | VLD |
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開催期間 | 2007/11/15(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | プロセッサ設計におけるSTAとSSTAの解析結果比較および分析(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Comparison between STA and SSTA Results in Microprocessor Design |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 統計的タイミング解析 / Statistical timing analysis |
キーワード(2)(和/英) | プロセッサ / Microprocessor |
キーワード(3)(和/英) | クリティカルパス / Critical Path |
第 1 著者 氏名(和/英) | 伊藤 則之 / Noriyuki ITO |
第 1 著者 所属(和/英) | 富士通株式会社 Fujitsu Limited |
第 2 著者 氏名(和/英) | 小松 裕成 / Hiroaki KOMATSU |
第 2 著者 所属(和/英) | 富士通株式会社 Fujitsu Limited |
第 3 著者 氏名(和/英) | 杉山 広行 / Hiroyuki SUGIYAMA |
第 3 著者 所属(和/英) | 富士通株式会社 Fujitsu Limited |
第 4 著者 氏名(和/英) | 備前 直美 / Naomi BIZEN |
第 4 著者 所属(和/英) | 富士通株式会社 Fujitsu Limited |
第 5 著者 氏名(和/英) | 井口 克己 / Katsumi IGUCHI |
第 5 著者 所属(和/英) | 富士通株式会社 Fujitsu Limited |
第 6 著者 氏名(和/英) | 吉田 裕司 / Yuji YOSHIDA |
第 6 著者 所属(和/英) | 富士通株式会社 Fujitsu Limited |
発表年月日 | 2007-11-22 |
資料番号 | VLD2007-89,DC2007-44 |
巻番号(vol) | vol.107 |
号番号(no) | 336 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |