講演名 2007-11-17
ホットメッシュCVD法によるGaN成長 : ルテニウムコーティッドタングステンメッシュの効果(薄膜プロセス・材料,一般)
深田 祐介, 安部 和貴, 黒木 雄一郎, 末光 眞希, 伊藤 隆, 成田 克, 遠藤 哲郎, 中澤 日出樹, 高田 雅介, 安井 寛治, 赤羽 正志,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 窒化ガリウム(GaN)は、wide-bandgap半導体で短波長、高温で動作する光デバイスとして用いられている。我々はこれまで、メッシュ状のタングステン(W)を用いたHot-mesh CVD法によりAlN/SiC/Si上へGaN膜を成長を試みてきた。得られた膜はWメッシュ温度1200℃において良好な結晶性、光学特性を示した。今回、さらにメッシュ温度の低温化を目指し、RuをコートしたWメッシュを用いてGaN成長を試みた。その結果、RuコートしたWメッシュを用いることで、1100℃以下の低温成長において結晶性や光学特性が改善した。
抄録(英) Gallium nitride (GaN) is wide-bandgap compound semiconductor, which is useful for optoelectronic devices operating in short wavelength and at high temperatures. In our previous study, hot-mesh CVD method using heated tungsten (W) with a mesh structure was investigated for the growth of hexagonal GaN on AlN/SiC/Si substrates. The GaN films grown at the hot-mesh temperature of 1200℃ showed good crystallinity and a strong near-band-edge emission. In order to lower the mesh temperature during the growth, the GaN films on AlN/SiC/Si substrates using Ru-coated W hot-mesh was investigated. By using the Ru-coated W hot mesh, the crystallinity and the PL spectrum of GaN films growth of lower than 1100℃ were further improved.
キーワード(和) GaN / アンモニア / Ru / W-mesh / Hot-mesh CVD
キーワード(英) GaN / ammonia / Ru / W-mesh / Hot-mesh CVD
資料番号 CPM2007-115
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 2007/11/9(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ホットメッシュCVD法によるGaN成長 : ルテニウムコーティッドタングステンメッシュの効果(薄膜プロセス・材料,一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Growth of GaN by hot-mesh CVD : Effect of Ru coated W mesh
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) GaN / GaN
キーワード(2)(和/英) アンモニア / ammonia
キーワード(3)(和/英) Ru / Ru
キーワード(4)(和/英) W-mesh / W-mesh
キーワード(5)(和/英) Hot-mesh CVD / Hot-mesh CVD
第 1 著者 氏名(和/英) 深田 祐介 / Yusuke FUKADA
第 1 著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学
Nagaoka University of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 安部 和貴 / Kazuki ABE
第 2 著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学
Nagaoka University of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 黒木 雄一郎 / Yuichiro KUROKI
第 3 著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学
Nagaoka University of Technology
第 4 著者 氏名(和/英) 末光 眞希 / Maki SUEMITSU
第 4 著者 所属(和/英) 東北大学学際科学国際高等センター
Center of Interdisciplinary Research, Tohoku University
第 5 著者 氏名(和/英) 伊藤 隆 / Takashi Ito
第 5 著者 所属(和/英) 東北大学学際科学国際高等センター
Center of Interdisciplinary Research, Tohoku University
第 6 著者 氏名(和/英) 成田 克 / Yuzuru NARITA
第 6 著者 所属(和/英) 九州工業大学工学部
Kyusyu Institute of Technology
第 7 著者 氏名(和/英) 遠藤 哲郎 / Tetsuro ENDOU
第 7 著者 所属(和/英) 東北大学電気通信研究所
Research of Institute & Technology, Hirosaki University
第 8 著者 氏名(和/英) 中澤 日出樹 / Hideki NAKAZAWA
第 8 著者 所属(和/英) 弘前大学理工学部
Hirosaki University
第 9 著者 氏名(和/英) 高田 雅介 / Masasuke TAKATA
第 9 著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学
Nagaoka University of Technology
第 10 著者 氏名(和/英) 安井 寛治 / Kanji YASUI
第 10 著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学
Nagaoka University of Technology
第 11 著者 氏名(和/英) 赤羽 正志 / Tadashi AKAHANE
第 11 著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学
Nagaoka University of Technology
発表年月日 2007-11-17
資料番号 CPM2007-115
巻番号(vol) vol.107
号番号(no) 325
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日