| 講演名 | 2007-10-19 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動接触機構との比較(トライボロジー/一般) 和田 真一, 園田 健人, 天尾 裕士, 高橋 康夫, 菊地 光男, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, 古賀 圭, |
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| 抄録(和) | 電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構では,加振回数が約250万回超の頃から,換算接触抵抗値が増加傾向となり,約400万回超からは,200Ωを超えるときが増えた.700万回からは,最大値約570Ωから最小値約175Ωの間を変動した。一方、比較として、摺動接触機構を持つ装置を試作し、連続摺動によって電気接点の劣化現象を測定することができた.摺動回数1.7万回超の頃から,接触抵抗値が増加傾向となり,換算接触抵抗値が,最大値約250Ωから最小値約20Ωの間を変動した。2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた. |
| 抄録(英) | We developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts by hammering and studied the influences of a micro-oscillating on these. Over 2.5 millions of hammering, the resistance of the contacts started increasing. Over 4 millions of hammering, the resistance often exceeded 200Ω. And over 7 millions of hammering, this fluctuated between 175Ω and 570Ω. On the other hand, we also developed the mechanism which gives sliding to electrical contacts for comparison. This mechanism could detect the degradation phenomenon on these by influences of repeated sliding operations. Over 17 thousand of sliding, the resistance of the contacts started increasing, and after that the resistance fluctuated in between 20Ω and 250Ω. Although the two mechanisms are completely different(in methods, numbers, etc), the results of two test were almost similar on the oscillational phenomenon. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 加振機構 / 微小振動 / 接触抵抗 / 摺動接触 / 摺動機構 |
| キーワード(英) | electrical contact / oscillating mechanism / micro-oscillation / contact resistance / sliding contact / sliding mechanism |
| 資料番号 | EMD2007-57 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2007/10/12(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動接触機構との比較(トライボロジー/一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism : Relation to sliding contact mechanism |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 加振機構 / oscillating mechanism |
| キーワード(3)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(4)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(5)（和/英） | 摺動接触 / sliding contact |
| キーワード(6)（和/英） | 摺動機構 / sliding mechanism |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 園田 健人 / Taketo SONODA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 天尾 裕士 / Hiroshi AMAO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 高橋 康夫 / Yasuo TAKAHASHI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 菊地 光男 / Mitsuo KIKUCHI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学理工学部 Faculty of Science and Technology, Keio University |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 古賀 圭 / Kei KOGA |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学理工学部 Faculty of Science and Technology, Keio University |
| 発表年月日 | 2007-10-19 |
| 資料番号 | EMD2007-57 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 272 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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