| 講演名 | 2007-09-05 プラスチック樹脂基板材料のミリ波複素誘電率測定に関する検討(マイクロ波一般/ミリ波技術,マイクロ波シミュレータ,ミリ波技術,一般) 渡辺 貴浩, 安部 直彬, 古神 義則, |
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| 抄録(和) | ウィスパリングギャラリーモード共振器法を用い,熱可塑性樹脂系やフッ素樹脂系などの各種回路基板用誘電体材料の複素比誘電率を50-100GHzのミリ波周波数帯において評価した.これら比較的比誘電率が小さい材料を同法で測定する場合,近似変数分離法やモードマッチング法など,誘電体内に共振電磁界が十分集中することを前提にした解析法では,計算精度が低下する場合がある.そのため電磁界の集中度によらず解析が行える実効誘電率法を適用し,誘電率を算定した.また,比較のためにモードマッチング法による誘電率算定値も示す. |
| 抄録(英) | Complex permittivties of dielectric substrates are evaluated with the Whispering-Gallery mode resonator method in a millimeter wave frequency band. For low permittivity material measurement, the resonant fields do not concentrate so match into the dielectric disk under test that the conventional techniques, such as Approximated Variables Separated Method or Mode Matching Method, to calculate the resonance characteristics of the WG modes, are available. Therefore Effective Permittivity Method which can be calculated with a small error can be applied to the analysis of such a case. This report shows the results of the measurement of low permittivity materials in the frequency band of 50-100GHz and compared the evaluated values with the Effective Permittivity Method and Mode Matching Method. |
| キーワード(和) | ミリ波 / 誘電体基板材料 / ウィスパリングギャラリーモード / 複素誘電率測定 |
| キーワード(英) | Millimeter-Wave / Dielectric Substrates / Whispering-Gallery Mode / Complex Permittivity Measurement |
| 資料番号 | MW2007-80 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
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| 開催期間 | 2007/8/29(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Microwaves (MW) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | プラスチック樹脂基板材料のミリ波複素誘電率測定に関する検討(マイクロ波一般/ミリ波技術,マイクロ波シミュレータ,ミリ波技術,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A study on the complex permittivity evaluation of the plastic resin substrates in the millimeter-wave region |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ミリ波 / Millimeter-Wave |
| キーワード(2)（和/英） | 誘電体基板材料 / Dielectric Substrates |
| キーワード(3)（和/英） | ウィスパリングギャラリーモード / Whispering-Gallery Mode |
| キーワード(4)（和/英） | 複素誘電率測定 / Complex Permittivity Measurement |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 渡辺 貴浩 / Takahiro WATANABE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 宇都宮大学工学部 Faculty of Engineering, Utsunomiya University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 安部 直彬 / Naoki ABE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 宇都宮大学工学部 Faculty of Engineering, Utsunomiya University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 古神 義則 / Yoshinori KOGAMI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 宇都宮大学工学部 Faculty of Engineering, Utsunomiya University |
| 発表年月日 | 2007-09-05 |
| 資料番号 | MW2007-80 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 208 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |