| 講演名 | 1993/4/23 赤外線画像によるICボードの故障診断事例(マイクロ・プロセッサ,ニューラルネットワーク) 西野 聰, 大嶋 建次, |
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| 抄録(和) | 本稿では、赤外線カメラでとらえたICバッケージの発熱画像のヒストグラムと発熱温度を用いてボードレベルでの故障検出とICレベルでの故障診断を2つのボードに適用した事例を報告する。ヒストグラムを用いた故障検出法はLSIの発熱温度のバラツキの影響を除去するに有効であるとの結果を得た。診断は診断表を故障実験により作成し、この表を用いて行った結果、良好な結果を得た。また、ICバッケージの発熱をシミュレーションする手法を開発して、発熱データのない未知のICについてもパラメータを与えることにより発熱温度を予測できるようにした。 |
| 抄録(英) | This paper reports a method for fault diagnosis of circuits at board level or IC level by the thermography. The method is that thermography camera takes picture of heat distribtion of operating IC. The fault detection method is using histograms of the picture. Diagnosis is accomplished by comparing the heat diagnosis table produced in fault IC with the normaly operating IC. The method is able to detect most single and multiple faults and analog IC's faults. We simulated heat of IC package by TURBO C. |
| キーワード(和) | 故障検出 / 故障診断 / 赤外線画像 / ヒストグラム / LSIボード |
| キーワード(英) | fault detection / fault diagnosis / thermography / histogram / LSI board |
| 資料番号 | CPSY93-10,FTS93-10,ICD93-10 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 1993/4/23(から1日開催) |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 赤外線画像によるICボードの故障診断事例(マイクロ・プロセッサ,ニューラルネットワーク) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Case Study on Fault Diagnosis of IC Board by Thermography |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障検出 / fault detection |
| キーワード(2)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(3)（和/英） | 赤外線画像 / thermography |
| キーワード(4)（和/英） | ヒストグラム / histogram |
| キーワード(5)（和/英） | LSIボード / LSI board |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 西野 聰 / Satoshi NISHINO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 小山工業高等専門学校 Oyama National College of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大嶋 建次 / kenji OHSHIMA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 小山工業高等専門学校 Oyama National College of Technology |
| 発表年月日 | 1993/4/23 |
| 資料番号 | CPSY93-10,FTS93-10,ICD93-10 |
| 巻番号（vol） | vol.93 |
| 号番号（no） | 18 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
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