| 講演名 | 2007-06-14 量子暗号鍵に対する乱数検定 : 乱数検定合格の為の光子検出器制御方法および鍵配付方法(フォトニックネットワーク/制御,光制御(波長変換・スイッチング等),光波/量子通信,GMPLS,一般) 田中 聡寛, 前田 和佳子, 高橋 成五, 田島 章雄, |
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| 抄録(和) | 量子暗号鍵配付によって生成する暗号鍵の偏りを解消し、乱数性を確保する安全性向上技術を確立した.装置駆動条件の経時変化に起因する選別鍵のマーク率変動を抑圧するために、選別鍵のマーク率を光子受信器の受信効率にフィードバックする偏り補償機構を提案し、長時間に渡って暗号鍵のマーク率変動を抑制することに成功した。さらに、検定全項目に合格する為には、受信器のアフターパルスに起因する局所的な"0" "1"の偏りを解消する必要があることを確認し,選択基底による出力APDの交差、及びAlice側でのマーク率モニタにより、選別鍵から最終鍵に至る各共有鍵がNIST規定の乱数検定SP800-22の全項目に合格することを実証した。 |
| 抄録(英) | We have established key techniques to ensure the randomness of crypto-key shared using Quantum Key Distribution. We have succeeded in the suppression of a mark ratio fluctuation caused by the deterioration of the equipment operating condition, by monitoring the mark ratio and changing bias voltage given to photon detectors. We confirmed that local polarization of 0s and 1s caused by afterpulse effect of photon detectors should be reduced in order to pass the randomness test. Crossing output port of interferometer with respect to each basis and monitoring the mark ratio at Alice, we have confirmed shared key pass the randomness test at each stage from sifted to final key. |
| キーワード(和) | 量子暗号鍵配付 / 乱数検定 |
| キーワード(英) | Quantum Key Distribution / Randomness Test |
| 資料番号 | OCS2007-13 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OCS |
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| 開催期間 | 2007/6/7(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Optical Communication Systems (OCS) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 量子暗号鍵に対する乱数検定 : 乱数検定合格の為の光子検出器制御方法および鍵配付方法(フォトニックネットワーク/制御,光制御(波長変換・スイッチング等),光波/量子通信,GMPLS,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A randomness test on a quantum crypto-key : Quantum key distribution process for a success in a randomness test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 量子暗号鍵配付 / Quantum Key Distribution |
| キーワード(2)（和/英） | 乱数検定 / Randomness Test |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 田中 聡寛 / Akihiro Tanaka |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NECシステムプラットフォーム研究所 System Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 前田 和佳子 / Wakako Maeda |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NECシステムプラットフォーム研究所 System Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 高橋 成五 / Seigo Takahashi |
| 第 3 著者 所属（和/英） | NECシステムプラットフォーム研究所 System Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 田島 章雄 / Akio Tajima |
| 第 4 著者 所属（和/英） | NECシステムプラットフォーム研究所 System Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 発表年月日 | 2007-06-14 |
| 資料番号 | OCS2007-13 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 89 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |