講演名 2007-06-15
2段階成長によるSi(111)面上へのInSb薄膜の成長(化合物半導体プロセス・デバイス・一般)
村田 和範, アハド ノルスルヤティ-ビンティ, 田村 悠, 森 雅之, 丹保 豊和, 前澤 宏一,
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抄録(和) Si(111)面上へのInSb薄膜のヘテロエピタキシャル成長を超高真空チャンバー内で成長温度200-420℃の範囲で行った。成長したInSb薄膜はX線回折(XRD)、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて評価した。またHall測定によって電気的特性も評価した。1段階成長において220-240℃で結晶性、表面性の良いInSb薄膜が成長した。また、その成長したInSb薄膜は2種類のドメインで形成されていた。1眉目を240℃で成長させた後、2眉目を420で成長させる2段階成長によってInSb薄膜は結晶構造が改善した。このInSb薄膜の移動度は約14000[cm^2/Vs](250K)となった。
抄録(英) Heteroepitaxial growth or InSb films on a Si(111) surface was carried out in an ultra-high vacuum (UHV) chamber at growth temperature range 200-420℃. The grown InSb films were characterized by using X-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM) and Hall measurement. The preferentially (111)-oriented InSb films were grown for the temperature range of 200℃ and 300℃, and the InSb films with smooth surfae at the temperature rang of 220-240℃. The grown InSb films consisted of two kinds of domains for temperature range of 200-300℃. The in-plane structure of the InSb film was improved using 2-step growth. The electron mobility of InSb film was about 140000 cm^2/Vs.
キーワード(和) X線回折 / 原子間力顕微鏡 / InSb / 2段階成長
キーワード(英) x-ray diffraction / atomic force microscope / InSb / 2step-growth
資料番号 ED2007-35
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2007/6/8(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 2段階成長によるSi(111)面上へのInSb薄膜の成長(化合物半導体プロセス・デバイス・一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) InSb films on Si(111) substrate by two-step growth
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) X線回折 / x-ray diffraction
キーワード(2)(和/英) 原子間力顕微鏡 / atomic force microscope
キーワード(3)(和/英) InSb / InSb
キーワード(4)(和/英) 2段階成長 / 2step-growth
第 1 著者 氏名(和/英) 村田 和範 / K. Murata
第 1 著者 所属(和/英) 富山大学理工学研究科
Nano and Functional material Sciences, Graduate School of Science and Engineering, University of Toyama
第 2 著者 氏名(和/英) アハド ノルスルヤティ-ビンティ / N. B. Ahmad
第 2 著者 所属(和/英) 富山大学理工学研究科
Nano and Functional material Sciences, Graduate School of Science and Engineering, University of Toyama
第 3 著者 氏名(和/英) 田村 悠 / Y. Tamura
第 3 著者 所属(和/英) 富山大学理工学研究科
Nano and Functional material Sciences, Graduate School of Science and Engineering, University of Toyama
第 4 著者 氏名(和/英) 森 雅之 / M. Mori
第 4 著者 所属(和/英) 富山大学理工学研究科
Nano and Functional material Sciences, Graduate School of Science and Engineering, University of Toyama
第 5 著者 氏名(和/英) 丹保 豊和 / T. Tambo
第 5 著者 所属(和/英) 富山大学理工学研究科
Nano and Functional material Sciences, Graduate School of Science and Engineering, University of Toyama
第 6 著者 氏名(和/英) 前澤 宏一 / K. Maezawa
第 6 著者 所属(和/英) 富山大学理工学研究科
Nano and Functional material Sciences, Graduate School of Science and Engineering, University of Toyama
発表年月日 2007-06-15
資料番号 ED2007-35
巻番号(vol) vol.107
号番号(no) 95
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日