| 講演名 | 2007/6/18 Retention Characteristics of Nano Scale Ferroelectric VDF/TrFE Copolymer Film , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | A Metal Insulator Metal (MIM) capacitor, which employs a spin-coated ferroelectric VDF/TrFE copolymer thin film, was fabricated and its ferroelectric characteristics were systematically analyzed. The remanent polarizations on each polymer thickness are investigated, where a constant electric field and varying pulse period are applied. It is found that the switching time applied from the Avrami equation is not sufficient to reverse a certain polarized phase of the VDF/TrFE copolymer. In this study, we attempt to explain these characteristics by the nucleation-growth theory. A thinner polymer under the same electric field and pulse duration time shows shorter retention time. Thus, it can be concluded that the uncompensated charge of the thinner film caused by the electrodes yields a stronger depolarization field effect. This is described by the calculation of the depolarization phenomenon. The importance of data writing time and polymer thickness with respect to retention time for ferroelectric nonvolatile memory devices is demonstrated. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | VDF/TrFE / Remanent Polarization / Retention / depolarization field / nonvolatile memory |
| 資料番号 | ED2007-130,SDM2007-135 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM |
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| 開催期間 | 2007/6/18(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Silicon Device and Materials (SDM) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Retention Characteristics of Nano Scale Ferroelectric VDF/TrFE Copolymer Film |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / VDF/TrFE |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Woo Young Kim |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Dept of EECS, Korea Advanced Institute of Science and Technology |
| 発表年月日 | 2007/6/18 |
| 資料番号 | ED2007-130,SDM2007-135 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 111 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |