| 講演名 | 2007-06-01 動的タイミング・エラー検出のための「書き込み保証バッファ」の評価(設計技術/性能評価,集積回路とアーキテクチャの協創-プロセッサ,メモリ,システムLSI及び一般-) 入江 英嗣, 杉本 健, 五島 正裕, 坂井 修一, |
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| 抄録(和) | 近年では,製造ばらつきや動作時の温度のばらつきのため,悲観的なマージンに基づく設計,製造手法は困難になりつつある.そのため,動的なタイミング・エラー対策技術がいくつか提案されている.本稿では,我々の提案した"書き込み保証バッファ(WAB)"について回路評価を行い,そのタイミング・エラー耐性を議論する.次世代のデバイスと高クロックアーキテクチャを想定してレジスタ・ファイルのモデルを決定し,HSPICEによる評価を行った.評価結果から,WABはレジスタ・ファイルに較べて500MHzから1GHz高い動作周波数を持つことが分かった. |
| 抄録(英) | Recently, conventional worst-case logic design is getting unrealistic because of variations in the manufacturing and operational environments. Some techniques to detect run-time timing error have been proposed to attack these problems. In this paper, we perform a circuit-level evaluation of "Write Assurance Buffer(WAB)" which we previously proposed. Assuming next-generation device technology and high speed architecture, the model of the register file was determined and evaluated. HSPICE simulation showed that WAB can operate at 500MHZ-1GHz higher frequency than the register file. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | ICD2007-29 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2007/5/24(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 動的タイミング・エラー検出のための「書き込み保証バッファ」の評価(設計技術/性能評価,集積回路とアーキテクチャの協創-プロセッサ,メモリ,システムLSI及び一般-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of "Write Assurance Buffer" for Dynamic Timing-error Detection |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 入江 英嗣 / HIDETSUGU IRIE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 科学技術振興機構 Japan Science and Technology Agency |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 杉本 健 / KEN SUGIMOTO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学大学院情報理工学系研究科 Grad. School of Info. Science and Technology, The University of Tokyo |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 五島 正裕 / MASAHIRO GOSHIMA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京大学大学院情報理工学系研究科 Grad. School of Info. Science and Technology, The University of Tokyo |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 坂井 修一 / SHUICHI SAKAI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京大学大学院情報理工学系研究科 Grad. School of Info. Science and Technology, The University of Tokyo |
| 発表年月日 | 2007-06-01 |
| 資料番号 | ICD2007-29 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | 76 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |