講演名 2007-04-20
Time-of-flight法を用いたルブレン有機単結晶のキャリア輸送特性評価(薄膜(Si,化合物,有機,フレキシブル)機能デバイス・材料・評価技術)
鄭 恒しん, 廣瀬 文彦, 木村 康男, 庭野 道夫, 板谷 謹悟,
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抄録(和)
抄録(英) We have developed a time-of-flight (TOP) measurement system to evaluate lateral charge carrier transport in organic semiconductor films. In our system we used a rod or rectangular film as the sample with a length of l-2mm with both the ends contacted to electrodes to apply a DC electric field in the sample where the side surface of the sample is fixed to a thin glass plate with a slit. The slit is used to define the UV irradiated area in the sample. We have found that it is possible to obtain lateral TOFs of electron and hole simultaneously by adjusting the UV irradiated area at a certain distance to the end of the electrode. In the present paper, we describe the details of the system and a TOP measurement with a rubrene single crystal as an example, which attracts much attention due to its high hole mobility in excess of 10cm^2/Vs.
キーワード(和)
キーワード(英) Rubrene / Organic semiconductor / Time-of-flight (TOP) measurement / Carrier transport
資料番号 ED2007-6,SDM2007-6,OME2007-6
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2007/4/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) Time-of-flight法を用いたルブレン有機単結晶のキャリア輸送特性評価(薄膜(Si,化合物,有機,フレキシブル)機能デバイス・材料・評価技術)
サブタイトル(和)
タイトル(英)
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / Rubrene
第 1 著者 氏名(和/英) 鄭 恒しん
第 1 著者 所属(和/英) 山形大学大学院理工学研究科
第 2 著者 氏名(和/英) 廣瀬 文彦
第 2 著者 所属(和/英) 山形大学大学院理工学研究科
第 3 著者 氏名(和/英) 木村 康男
第 3 著者 所属(和/英) 東北大学電気通信研究所ナノスピン実験施設
第 4 著者 氏名(和/英) 庭野 道夫
第 4 著者 所属(和/英) 東北大学電気通信研究所ナノスピン実験施設
第 5 著者 氏名(和/英) 板谷 謹悟
第 5 著者 所属(和/英) 東北大学大学院工学研究科
発表年月日 2007-04-20
資料番号 ED2007-6,SDM2007-6,OME2007-6
巻番号(vol) vol.107
号番号(no) 14
ページ範囲 pp.-
ページ数 3
発行日