講演名 2007-04-20
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振装置試作
和田 真一, 園田 健人, 片桐 要祐, 高橋 康夫, 菊地 光男, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎,
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抄録(和) 電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.
抄録(英) We have developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on electrical contacts.
キーワード(和) 電気接点 / 加振機構 / 微小振動 / 接触抵抗
キーワード(英) electrical contact / oscillating mechanism / micro-oscillating / contact resistance
資料番号 EMD2007-1
発行日

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 2007/4/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromechanical Devices (EMD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振装置試作
サブタイトル(和)
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism : hammering oscillating mechanism for trial
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact
キーワード(2)(和/英) 加振機構 / oscillating mechanism
キーワード(3)(和/英) 微小振動 / micro-oscillating
キーワード(4)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance
第 1 著者 氏名(和/英) 和田 真一 / Shin-ichi WADA
第 1 著者 所属(和/英) TMCシステム(株)
TMC System Co., Ltd.
第 2 著者 氏名(和/英) 園田 健人 / Taketo SONODA
第 2 著者 所属(和/英) TMCシステム(株)
TMC System Co., Ltd.
第 3 著者 氏名(和/英) 片桐 要祐 / Yousuke KATAGIRI
第 3 著者 所属(和/英) TMCシステム(株)
TMC System Co., Ltd.
第 4 著者 氏名(和/英) 高橋 康夫 / Yasuo TAKAHASHI
第 4 著者 所属(和/英) TMCシステム(株)
TMC System Co., Ltd.
第 5 著者 氏名(和/英) 菊地 光男 / Mitsuo KIKUCHI
第 5 著者 所属(和/英) TMCシステム(株)
TMC System Co., Ltd.
第 6 著者 氏名(和/英) 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA
第 6 著者 所属(和/英) TMCシステム(株)
TMC System Co., Ltd.
第 7 著者 氏名(和/英) 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA
第 7 著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部
Faculty of Science and Technology, Keio University
発表年月日 2007-04-20
資料番号 EMD2007-1
巻番号(vol) vol.107
号番号(no) 12
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日