講演名 | 2007-04-20 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振装置試作 和田 真一, 園田 健人, 片桐 要祐, 高橋 康夫, 菊地 光男, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
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抄録(和) | 電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した. |
抄録(英) | We have developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on electrical contacts. |
キーワード(和) | 電気接点 / 加振機構 / 微小振動 / 接触抵抗 |
キーワード(英) | electrical contact / oscillating mechanism / micro-oscillating / contact resistance |
資料番号 | EMD2007-1 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | EMD |
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開催期間 | 2007/4/13(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振装置試作 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism : hammering oscillating mechanism for trial |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 電気接点 / electrical contact |
キーワード(2)(和/英) | 加振機構 / oscillating mechanism |
キーワード(3)(和/英) | 微小振動 / micro-oscillating |
キーワード(4)(和/英) | 接触抵抗 / contact resistance |
第 1 著者 氏名(和/英) | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
第 1 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 2 著者 氏名(和/英) | 園田 健人 / Taketo SONODA |
第 2 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 3 著者 氏名(和/英) | 片桐 要祐 / Yousuke KATAGIRI |
第 3 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 4 著者 氏名(和/英) | 高橋 康夫 / Yasuo TAKAHASHI |
第 4 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 5 著者 氏名(和/英) | 菊地 光男 / Mitsuo KIKUCHI |
第 5 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 6 著者 氏名(和/英) | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
第 6 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 7 著者 氏名(和/英) | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
第 7 著者 所属(和/英) | 慶應義塾大学理工学部 Faculty of Science and Technology, Keio University |
発表年月日 | 2007-04-20 |
資料番号 | EMD2007-1 |
巻番号(vol) | vol.107 |
号番号(no) | 12 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |