講演名 2007/3/2
4-2加算木を用いたテスト容易な乗算器(演算回路/専用回路,システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
鬼頭 信貴, 花井 健輔, 高木 直史,
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抄録(和) 近年,VLSIの大規模化に伴いVLSIのテストのコストが上昇しており,テストコストの削減が求められている.4-2加算木を用いた乗算器は高速性とレイアウトの容易さが両立し,高速データパスに有用である.本稿では,Cell Fault Model(CFM)のもとで全加算器などをセルとして扱い,4-2加算器間の接続を統一し,再帰的な構成にすることで,段数にテストパターン数が依存しない再帰的なテスト集合の生成できることを示す.また,部分積生成部を通した4-2加算木のテストを可能とする部分積生成部の設計法も示す.
抄録(英) The growth of the scale of VLSI designs makes test cost of VLSI chips expensive. Techniques of test cost reduction are required. A multiplier with a 4-2 adder tree, which is fast and has simple VLSI layout, is useful for a high-speed datapath. We present an easily testable multiplier with a 4-2 adder tree, with respect to the Cell Fault Model (CFM). We treat full adders as cells. We demonstrate a 4-2 adder tree, which has recursive configuration by unificating connection manner between 4-2 adders, has a test set which is derived recursively and whose size is independent of depth of the tree. Also, we demonstrate a design method of a partial product generation circuit to test a 4-2 adder tree through it.
キーワード(和) テスト生成 / 乗算器 / C-テスタビリティ / 4-2加算木
キーワード(英) test generation / multiplier / C-testability / 4-2 adder tree
資料番号 VLD2006-104,ICD2006-231
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2007/3/2(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 4-2加算木を用いたテスト容易な乗算器(演算回路/専用回路,システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Easily Testable Multiplier with 4-2 Adder Tree
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) テスト生成 / test generation
キーワード(2)(和/英) 乗算器 / multiplier
キーワード(3)(和/英) C-テスタビリティ / C-testability
キーワード(4)(和/英) 4-2加算木 / 4-2 adder tree
第 1 著者 氏名(和/英) 鬼頭 信貴 / Nobutaka KITO
第 1 著者 所属(和/英) 名古屋大学大学院情報科学研究科
Graduate School of Information Science, Nagoya University
第 2 著者 氏名(和/英) 花井 健輔 / Kensuke HANAI
第 2 著者 所属(和/英) 名古屋大学大学院情報科学研究科
Graduate School of Information Science, Nagoya University
第 3 著者 氏名(和/英) 高木 直史 / Naofumi TAKAGI
第 3 著者 所属(和/英) 名古屋大学大学院情報科学研究科
Graduate School of Information Science, Nagoya University
発表年月日 2007/3/2
資料番号 VLD2006-104,ICD2006-231
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 552
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日