| 講演名 | 2007-02-23 Nバックスキャンを用いたMHTによる目標追尾性能評価(レーダ信号処理及び一般) 小幡 康, 系 正義, |
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| 抄録(和) | 近接複数目標の追尾,高クラック環境下向けの目標追尾方式ではMHT(Multiple Hypothesis Tracking)が高い相関性能を示すため良く知られている.通常MHTでは信頼度の上位数仮説のみを維持するが,この仮説選択方法としてNスキャン分の相関仮説を全て維持してその信頼度からNスキャンより前の相関を一意に決定するNバックスキャンを適用すると,演算負荷はかかるものの正解仮説を維持できる確率がより高まる.なおこのNバックスキャンによるMHTは次世代の追尾方式として注目されているMFA(Multiple Frame Assignment)の近似となる.本稿ではMFAの方式検討の前段階として,NバックスキャンMHTと従来MHTの追尾性能をシミュレーションにより比較評価した.クラッタ環境下の直進目標追尾開始および低S/N環境下での旋回目標追尾維持を例として評価した結果,NバックスキャンMHTが従来MHTを上回り,例えば旋回目標の追尾維持では成功率で30ポイント以上の差となった. |
| 抄録(英) | MHT(Multiple Hypothesis Tracking) is well-known tracking algorithm for its association performance in dense environment. In MHT hypotheses are reduced by calculating probability and select upper hypotheses in a usual way. Regardless of computational load, better association performance can be expected by using N-back scan, maintaining all hypotheses in N-scan and select one hypothesis in past over N-scan, for hypotheses reduction. The N-back scan MHT is similar to MFA(Multiple Frame Assignment), which attracts much attention as an advanced method. We evaluate the performance of the N-back scan MHT, by simulation of track initiation in clutter environment and track maintenance of low observable target. From the result of simulation, we can predict that MFA shows better performance than MHT. For example, former success rate of tracking a maneuvering target, is 30 points better than latter. |
| キーワード(和) | MHT / MFA / 相関決定 / Nバックスキャン |
| キーワード(英) | MHT / MFA / Association / N-back Scan |
| 資料番号 | SANE2006-142 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SANE |
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| 開催期間 | 2007/2/16(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Space, Aeronautical and Navigational Electronics (SANE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Nバックスキャンを用いたMHTによる目標追尾性能評価(レーダ信号処理及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Tracking Performance Evaluation of N-back Scan MHT |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | MHT / MHT |
| キーワード(2)（和/英） | MFA / MFA |
| キーワード(3)（和/英） | 相関決定 / Association |
| キーワード(4)（和/英） | Nバックスキャン / N-back Scan |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小幡 康 / Yasushi OBATA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社情報技術総合研究所 Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 系 正義 / Masayoshi ITO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社情報技術総合研究所 Mitsubishi Electric Corporation |
| 発表年月日 | 2007-02-23 |
| 資料番号 | SANE2006-142 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | 542 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |