講演名 2007-01-19
極薄絶縁層とEBG構造の組合せによる広帯域電源デカップリング特性(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
一條 清壽, 串平 孝信, 須藤 俊夫,
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抄録(和) プリント基板の電源・グラウンド層に16umの極薄絶縁層を用い、さらに電源層のパターンにEBG構造を組み合わせることにより、電源・グラウンド間のSパラメータ(S21)特性を数GHzまで、80dB以上の広帯域で高いアイソレーション特性が得られることが分かった。また、電源・グラウンド面内の電位変動と、遠方放射ノイズとの関連性も評価した。
抄録(英) Wide-band decoupling property of power/ground structure of a printed circuit board is required for the high-speed digital applications. Low S21 property with around -60 dB can be obtained by simply using thin dielectric layer of 16 um. While, the EBG (electromagnetic bandgap) structure with relatively thick dielectric layer of 500 um showed the typical stop-band property. By combining ultra-thin dielectric layer and EBG structure, low S21 property with wideband upto several GHz range has been obtained along with high isolation property of more than -80dB.
キーワード(和) プリント基板のSパラメータ / 同時スイッチングノイズ / EMI / EBG構造
キーワード(英) Wideband decoupling property / thin insulator / EBG structure / EMI / SSN
資料番号 CPM2006-153,ICD2006-195
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 2007/1/11(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 極薄絶縁層とEBG構造の組合せによる広帯域電源デカップリング特性(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Wideband Decoupling Properties by the Combination of Ultra-thin Insulator and EBG Structure
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) プリント基板のSパラメータ / Wideband decoupling property
キーワード(2)(和/英) 同時スイッチングノイズ / thin insulator
キーワード(3)(和/英) EMI / EBG structure
キーワード(4)(和/英) EBG構造 / EMI
第 1 著者 氏名(和/英) 一條 清壽 / Seiju ICHJO
第 1 著者 所属(和/英) 東芝
Toshiba Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 串平 孝信 / Takanobu KUSHIHIRA
第 2 著者 所属(和/英) マニュファクチャリングソリューション
Manufacturing Solution Company Ltd (work in Toshiba Corporation)
第 3 著者 氏名(和/英) 須藤 俊夫 / Toshio SUDO
第 3 著者 所属(和/英) 東芝
Toshiba Corporation
発表年月日 2007-01-19
資料番号 CPM2006-153,ICD2006-195
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 467
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日