| 講演名 | 2007-01-19 アナログ回路の故障パラメータ解法の検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般) 久慈 憲夫, |
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| 抄録(和) | 携帯電話や無線LANの普及と共に、アナログ回路が混在したLSIが増加し、開発TAT短縮のためにアナログ回路の故障診断技術の確立が重要な課題になっている.前回の発表では、ビア抵抗の増加によるパラメータ故障の診断法として、ビア抵抗を変数とする回路方程式を解き、その解を求めることによる故障診断法の基本的な考え方を示した.今回は故障パラメータの解法として、回路方程式の解の有無の判定法、及び方程式の全ての解を求める方法、を提案する.解の有無の判定法としては、二分法により再帰的に区間を分割しながら解の存在しない領域を除外していく方法を導入する.また全ての解を求める方法としては、最急勾配法と遺伝的アルゴリズムによる関数最小化法を取り上げる.以上の提案手法を評価した結果、解の有無判定法と関数最小化法を併用することで、安定的かつ効率的に解が求められることを確認した. |
| 抄録(英) | As cellar phones and wireless LANs are popularly used in our lives, mixed-signal LSIs, which have analog circuits for radio-frequency signal processing insides, increased in number, and their fault diagnosis is becoming more and more essential. Previously, we proposed an improved parameter-estimation method for diagnosing parametric faults of analog circuits, and demonstrated that the proposed method makes it possible to diagnose them without any design knowledge. To implement such methods into a diagnostic system, it is necessary to establish efficient algorithms for acquiring parameter solutions to circuit equations. In this paper, we propose algorithms of demonstrating existence of solutions to circuit equations and finding all their solutions. Existence of solutions is shown by excluding non-solution regions in successive binary division, and Newton method and genetic algorithm are introduced to find all the solutions of equations. As a result of evaluating these introduced methods, it was demonstrated to acquire solutions stably and efficiently. |
| キーワード(和) | パラメータ故障 / アナログ回路 / ビア抵抗 / 解の探索 / 故障診断 |
| キーワード(英) | Parametric faults / Analog circuits / Via resistance / Finding solutions / Fault diagnosis |
| 資料番号 | CPM2006-150,ICD2006-192 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2007/1/11(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | アナログ回路の故障パラメータ解法の検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Estimation methods of faulty parameters for analog circuits |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | パラメータ故障 / Parametric faults |
| キーワード(2)（和/英） | アナログ回路 / Analog circuits |
| キーワード(3)（和/英） | ビア抵抗 / Via resistance |
| キーワード(4)（和/英） | 解の探索 / Finding solutions |
| キーワード(5)（和/英） | 故障診断 / Fault diagnosis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 久慈 憲夫 / Norio KUJI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 八戸工業高等専門学校 Hachinohe National College of Technology |
| 発表年月日 | 2007-01-19 |
| 資料番号 | CPM2006-150,ICD2006-192 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | 467 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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