| 講演名 | 2007-01-19 抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般) 三浦 克介, 中前 章治, |
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| 抄録(和) | レイアウト抽出ネットリストを用いたSoCマクロブロックの故障診断手法を提案している。設計時のネットリストが入手できないハードIPコアの診断を、レイアウトから抽出したネットリストを用いて行っている。LSIテスタの出力パターン(フェイルログ)による診断とプローバによる診断を組み合わせて、故障候補を絞り込む。故障出力の上流論理コーン領域についてのみネットリスト抽出を行うことで、対象回路サイズを小さくしている。診断用テストパターンを生成すると共に、レイアウトから抵抗・寄生容量を抽出し、フェイルログによる診断結果のスコアを修正することで、フェイルログによる診断の精度を高め、プローバでの測定回数を削減している。また、プローブ用のテストパターンを生成し、プローブ時間を短縮している。本手法をISCAS'85ベンチマーク回路から合成されたレイアウトに適用し、本手法の有効性を示す。 |
| 抄録(英) | A SoC macro-block diagnostic method using a netlist extracted from layout data is proposed. A hard IP core that does not have the pre-designed netlist is diagnosed by using a netlist extracted from the layout. A prober is used after the device is diagnosed by using output patterns (fail log). A netlist is extracted only from the upstream logic cone area of the faulty output terminals. Therefore the size of circuit under diagnosis is reduced. Our method uses the test pattern for diagnosis and modifies the score of the diagnostic result by considering resistance and parasitic capacitance extracted from the layout in order to improve diagnostic resolution and reduce the number of the probing operations. We applied our method to the layout synthesized from the ISCAS'85 benchmark circuits in order to show its validity. |
| キーワード(和) | 大規模集積回路 / 故障診断 / 回路抽出 / プローバ / テストパターン |
| キーワード(英) | VLSI / fault diagnosis / circuit extraction / prober / test pattern |
| 資料番号 | CPM2006-147,ICD2006-189 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2007/1/11(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | SoC macro-block diagnosis using extracted layout information |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 大規模集積回路 / VLSI |
| キーワード(2)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(3)（和/英） | 回路抽出 / circuit extraction |
| キーワード(4)（和/英） | プローバ / prober |
| キーワード(5)（和/英） | テストパターン / test pattern |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 三浦 克介 / Katsuyoshi MIURA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 Dept. Information Systems Eng., Grad. Sch. Information Science and Technology, Osaka University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 中前 章治 / Koji NAKAMAE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 Dept. Information Systems Eng., Grad. Sch. Information Science and Technology, Osaka University |
| 発表年月日 | 2007-01-19 |
| 資料番号 | CPM2006-147,ICD2006-189 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | 467 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |