講演名 | 2007-01-19 複数FBMを組み合せた不良モード分類を行う故障解析システム(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般) 前田 一史, 太田 文人, 國家 三智雄, 福本 晃二, |
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抄録(和) | フェイルビットマップ(FBM)解析ツールの機能として、同一サンプルに対して異なったテスト条件下で取得した複数FBMの同一領域に出現するフェイルビットパターンを組み合わせることでモード分類を詳細に行うことができるシステムを開発した。その結果、詳細な不良モード分類を容易に行うことが可能になった。 |
抄録(英) | We have developed the system to classify failure modes using combination of fail bit patterns appeared in same areas of fail bit maps (FBMs) obtained under different test conditions for a same sample. As a result, we can classify detailed failure modes with ease. |
キーワード(和) | フェイルビットマップ / テスト / 故障解析 / 不良モード |
キーワード(英) | fail bit map / test / failure analysis / failure mode |
資料番号 | CPM2006-145,ICD2006-187 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | CPM |
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開催期間 | 2007/1/11(から1日開催) |
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講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 複数FBMを組み合せた不良モード分類を行う故障解析システム(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Failure analysis system to classify failure modes using combination of FBMs |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | フェイルビットマップ / fail bit map |
キーワード(2)(和/英) | テスト / test |
キーワード(3)(和/英) | 故障解析 / failure analysis |
キーワード(4)(和/英) | 不良モード / failure mode |
第 1 著者 氏名(和/英) | 前田 一史 / Hitoshi Maeda |
第 1 著者 所属(和/英) | 株式会社ルネサス テクノロジ 生産本部 ウェハプロセス技術統括部 Process Technology Development Division, Production and Technology Unit, Renesas Technology Corp. |
第 2 著者 氏名(和/英) | 太田 文人 / Fumihito Ohta |
第 2 著者 所属(和/英) | 株式会社ルネサス テクノロジ 生産本部 ウェハプロセス技術統括部 Process Technology Development Division, Production and Technology Unit, Renesas Technology Corp. |
第 3 著者 氏名(和/英) | 國家 三智雄 / Michio Kuniya |
第 3 著者 所属(和/英) | 株式会社ルネサス テクノロジ 生産本部 ウェハプロセス技術統括部 Process Technology Development Division, Production and Technology Unit, Renesas Technology Corp. |
第 4 著者 氏名(和/英) | 福本 晃二 / Koji Fukumoto |
第 4 著者 所属(和/英) | 株式会社ルネサス テクノロジ 生産本部 ウェハプロセス技術統括部 Process Technology Development Division, Production and Technology Unit, Renesas Technology Corp. |
発表年月日 | 2007-01-19 |
資料番号 | CPM2006-145,ICD2006-187 |
巻番号(vol) | vol.106 |
号番号(no) | 467 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |