講演名 2007-01-19
複数FBMを組み合せた不良モード分類を行う故障解析システム(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
前田 一史, 太田 文人, 國家 三智雄, 福本 晃二,
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抄録(和) フェイルビットマップ(FBM)解析ツールの機能として、同一サンプルに対して異なったテスト条件下で取得した複数FBMの同一領域に出現するフェイルビットパターンを組み合わせることでモード分類を詳細に行うことができるシステムを開発した。その結果、詳細な不良モード分類を容易に行うことが可能になった。
抄録(英) We have developed the system to classify failure modes using combination of fail bit patterns appeared in same areas of fail bit maps (FBMs) obtained under different test conditions for a same sample. As a result, we can classify detailed failure modes with ease.
キーワード(和) フェイルビットマップ / テスト / 故障解析 / 不良モード
キーワード(英) fail bit map / test / failure analysis / failure mode
資料番号 CPM2006-145,ICD2006-187
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 2007/1/11(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 複数FBMを組み合せた不良モード分類を行う故障解析システム(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Failure analysis system to classify failure modes using combination of FBMs
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) フェイルビットマップ / fail bit map
キーワード(2)(和/英) テスト / test
キーワード(3)(和/英) 故障解析 / failure analysis
キーワード(4)(和/英) 不良モード / failure mode
第 1 著者 氏名(和/英) 前田 一史 / Hitoshi Maeda
第 1 著者 所属(和/英) 株式会社ルネサス テクノロジ 生産本部 ウェハプロセス技術統括部
Process Technology Development Division, Production and Technology Unit, Renesas Technology Corp.
第 2 著者 氏名(和/英) 太田 文人 / Fumihito Ohta
第 2 著者 所属(和/英) 株式会社ルネサス テクノロジ 生産本部 ウェハプロセス技術統括部
Process Technology Development Division, Production and Technology Unit, Renesas Technology Corp.
第 3 著者 氏名(和/英) 國家 三智雄 / Michio Kuniya
第 3 著者 所属(和/英) 株式会社ルネサス テクノロジ 生産本部 ウェハプロセス技術統括部
Process Technology Development Division, Production and Technology Unit, Renesas Technology Corp.
第 4 著者 氏名(和/英) 福本 晃二 / Koji Fukumoto
第 4 著者 所属(和/英) 株式会社ルネサス テクノロジ 生産本部 ウェハプロセス技術統括部
Process Technology Development Division, Production and Technology Unit, Renesas Technology Corp.
発表年月日 2007-01-19
資料番号 CPM2006-145,ICD2006-187
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 467
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日