| 講演名 | 2007-01-18 インピーダンスバランス法を用いたオンチップインダクタの評価(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般) 本良 瑞樹, 藤島 実, |
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| 抄録(和) | 従来,オンチップインダクタの評価には素子単体をテストデバイスとする専用の回路が必要であった.しかし,この手法では回路に用いられている状態でのインダクタ特性を評価することはできない.そこで,VCO内のインダクタ特性をVCO動作の応答から評価するインピーダンスバランス法という手法を提案する.専用のテストデバイスを用いずVCO内で直接評価を行うことで,オンチップインダクタのVCO内におけるインダクタンスおよびレジスタンスを評価した. |
| 抄録(英) | It is difficult to obtain the characteristics of on-chip inductors on site since conventional evaluation requires dedicated test devices. In this paper, in-situ evaluation of both inductance and resistance of on-chip inductors without dedicated test devices is proposed, where on-chip inductors are evaluated on the basis of the threshold current for oscillation and oscillation frequency without being affected by lead wires. The proposed method was verified by measurement, and it is found that the error against the evaluation result using a network analyzer is less than 3%. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | On-chip inductor / "In Situ" evaluation / Impedance balance method |
| 資料番号 | CPM2006-136,ICD2006-178 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2007/1/11(から1日開催) |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | インピーダンスバランス法を用いたオンチップインダクタの評価(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | In Situ |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / On-chip inductor |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 本良 瑞樹 / Mizuki MOTOYOSHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京大学大学院工学系研究科 School of Engineering, The University of Tokyo |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤島 実 / Minoru FUJISHIMA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学大学院新領域創成科学研究科 School of Frontier Sciences, The University of Tokyo |
| 発表年月日 | 2007-01-18 |
| 資料番号 | CPM2006-136,ICD2006-178 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | 468 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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